原子構造を立体視
問い合わせ番号
SOL-0000001503
ビームライン
BL25SU（軟Ｘ線固体分光）
学術利用キーワード
| A. 試料 | 無機材料, 計測法、装置に関する研究 |
|---|---|
| B. 試料詳細 | 金属・合金, 半導体, 結晶性固体 |
| C. 手法 | Ｘ線回折, 光電離、二次電子 |
| D. 手法の詳細 | 光電子分光, 光電子ホログラフィー |
| E. 付加的測定条件 | 偏光（円、楕円）, 二次元画像計測, 超高真空, 表面, 界面, 室温 |
| F. エネルギー領域 | 軟Ｘ線（<2 keV） |
| G. 目的・欲しい情報 | 局所構造, 構造解析, 結晶構造, 相転移 |
産業利用キーワード
| 階層1 | 半導体 |
|---|---|
| 階層2 | シリコン系半導体, 化合物半導体, 触媒 |
| 階層3 | |
| 階層4 | 格子定数, 原子間距離, 結晶構造, 局所構造, 吸着状態 |
| 階層5 | XPS, 回折 |
分類
A30.20 表面界面物性, A40.40 表面・界面化学, A80.12 半導体・電子材料, A80.20 金属・構造材料, A80.30 無機材料, M10.10 単結晶回折, M10.30 表面・界面構造回折, M50.10 光電子分光
利用事例本文
立体原子顕微鏡は 原子配列を調べることのできるユニークな手法です。この手法を用いることで、表面や不純物の局所構造を測定することができます。この測定法は注目する元素を選択して、その周りの局所構造が測定できます。測定対象には必ずしも原子配列の長距離秩序は必要ありません。図に示すのは、タングステン結晶について測定した立体原子像です。この結果から、光電子放出角度分布の円二色性が、立体原子顕微鏡として動作することがわかりました。
[ H. Daimon, Physical Review Letters 86, 2034-2037 (2001), Fig. 2,
©2001 American Physical Society ]
画像ファイルの出典
原著論文/解説記事
誌名
Phys. Rev. Lett. 86, 2034 (2001)
図番号
2
測定手法
立体原子顕微鏡は、原子の局所構造を調べられるユニークな測定方法です。右円偏光および、左円偏光で励起した２枚の光電子回折パターンは原子の局所構造のステレオ写真になります。この方法は、電気伝導性を有する結晶、表面吸着子、界面原子、結晶内不純物に適用でき、原子の局所構造に関する情報を得ることができます。
画像ファイルの出典
図なし
測定準備に必要なおおよその時間
1 日
測定装置
| 装置名 | 目的 | 性能 |
|---|---|---|
| ２次元表示型角度分解型光電子分析器 | 立体原子顕微鏡 | エネルギー200～1000eV、エネルギー分解能0.25eV、測定角度±60°、角度分解能0.6° |
参考文献
| 文献名 |
|---|
| Phys. Rev. Lett. 86, 2034 (2001) |
関連する手法
光電子分光、光電子回折、光電子ホログラフィー、蛍光X線ホログラフィー、X線回折
アンケート
SPring-8だからできた測定。他の施設では不可能もしくは難しい
本ビームラインの主力装置を使っている
測定の難易度
中程度
データ解析の難易度
中程度
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
2～3シフト