原子構造を立体視
Inquiry number
SOL-0000001503
Beamline
BL25SU (Soft X-ray Spectroscopy of Solid)
Scientific keywords
| A. Sample category | inorganic material, research on method, instrumentation |
|---|---|
| B. Sample category (detail) | metal, alloy, semiconductor, solid-state crystal |
| C. Technique | X-ray diffraction, photoemission, photoionization |
| D. Technique (detail) | photoelectron spectra, photoelectron holography |
| E. Particular condition | polarization (circular), 2D imaging, ultra-high vacuum, surface, interface, room temperature |
| F. Photon energy | soft X-ray |
| G. Target information | local structure, structure analysis, crystal structure, phase transition |
Industrial keywords
| level 1---Application area | Semiconductor |
|---|---|
| level 2---Target | silicon semiconductor, compound semiconductor, catalysis |
| level 3---Target (detail) | |
| level 4---Obtainable information | d-spacing (lattice parameter), interatomic distance, crystal structure, local structure, adsorption |
| level 5---Technique | XPS, diffraction |
Classification
A30.20 surface・interface, A40.40 surface・interface chemistry, A80.12 semiconductor, A80.20 metal ・material, A80.30 inorganic material, M10.10 single crystal diffraction, M10.30 surface・interface diffraction, M50.10 photoelectron spectroscopy
Body text
立体原子顕微鏡は 原子配列を調べることのできるユニークな手法です。この手法を用いることで、表面や不純物の局所構造を測定することができます。この測定法は注目する元素を選択して、その周りの局所構造が測定できます。測定対象には必ずしも原子配列の長距離秩序は必要ありません。図に示すのは、タングステン結晶について測定した立体原子像です。この結果から、光電子放出角度分布の円二色性が、立体原子顕微鏡として動作することがわかりました。
[ H. Daimon, Physical Review Letters 86, 2034-2037 (2001), Fig. 2,
©2001 American Physical Society ]
Source of the figure
Original paper/Journal article
Journal title
Phys. Rev. Lett. 86, 2034 (2001)
Figure No.
2
Technique
立体原子顕微鏡は、原子の局所構造を調べられるユニークな測定方法です。右円偏光および、左円偏光で励起した２枚の光電子回折パターンは原子の局所構造のステレオ写真になります。この方法は、電気伝導性を有する結晶、表面吸着子、界面原子、結晶内不純物に適用でき、原子の局所構造に関する情報を得ることができます。
Source of the figure
No figure
Required time for experimental setup
1 day(s)
Instruments
| Instrument | Purpose | Performance |
|---|---|---|
| ２次元表示型角度分解型光電子分析器 | 立体原子顕微鏡 | エネルギー200～1000eV、エネルギー分解能0.25eV、測定角度±60°、角度分解能0.6° |
References
| Document name |
|---|
| Phys. Rev. Lett. 86, 2034 (2001) |
Related experimental techniques
光電子分光、光電子回折、光電子ホログラフィー、蛍光X線ホログラフィー、X線回折
Questionnaire
The measurement was possible only in SPring-8. Impossible or very difficult in other facilities.
This solution is an application of a main instrument of the beamline.
Ease of measurement
Middle
Ease of analysis
Middle
How many shifts were needed for taking whole data in the figure?
Two-three shifts