グラファイトの原子配列を立体視
問い合わせ番号
SOL-0000001504
ビームライン
BL25SU（軟Ｘ線固体分光）
学術利用キーワード
| A. 試料 | 無機材料, 計測法、装置に関する研究 |
|---|---|
| B. 試料詳細 | 金属・合金, 半導体, 結晶性固体 |
| C. 手法 | Ｘ線回折, Ｘ線弾性散乱, 光電離、二次電子 |
| D. 手法の詳細 | 光電子分光, 光電子ホログラフィー |
| E. 付加的測定条件 | 偏光（円、楕円）, 二次元画像計測, 超高真空, 表面, 界面 |
| F. エネルギー領域 | 軟Ｘ線（<2 keV） |
| G. 目的・欲しい情報 | 局所構造, 構造解析, 結晶構造, 相転移 |
産業利用キーワード
| 階層1 | 半導体 |
|---|---|
| 階層2 | シリコン系半導体, 化合物半導体, 触媒 |
| 階層3 | |
| 階層4 | 格子定数, 原子間距離, 結晶構造, 局所構造, 吸着状態 |
| 階層5 | XPS, 回折 |
分類
A30.20 表面界面物性, A40.40 表面・界面化学, A80.12 半導体・電子材料, A80.20 金属・構造材料, M10.10 単結晶回折, M10.30 表面・界面構造回折, M50.10 光電子分光
利用事例本文
立体原子顕微鏡は 原子配列を調べることのできるユニークな手法です。この手法を用いることで、表面や不純物の局所構造を測定することができます。この測定法は注目する元素を選択して、その周囲の局所構造が測定できます。測定対象には、必ずしも原子配列の長距離秩序は必要ありません。また、軽元素に関しても測定が可能です。図に示すのは、グラファイトについて測定した立体原子像です。この結果から、立体電子顕微鏡が精度良く原子の位置を測定できることが分かりました。
[ F. Matsui, H. Daimon, F. Z. Guo and T. Matsushita, Applied Physics Letters 85, 3737-3739 (2004), Fig. 2,
©2004 American Institute of Physics ]
画像ファイルの出典
原著論文/解説記事
誌名
Appl. Phys. Lett. 85,3737 (2004)
図番号
2
測定手法
立体原子顕微鏡は、原子の局所構造を調べられるユニークな測定方法です。右円偏光および、左円偏光で励起した２枚の光電子回折パターンは原子の局所構造のステレオ写真になります。この方法は、電気伝導性を有する結晶、表面吸着子、界面原子、結晶内不純物に適用でき、原子の局所構造に関する情報を得ることができます。
画像ファイルの出典
図なし
測定準備に必要なおおよその時間
1 日
測定装置
| 装置名 | 目的 | 性能 |
|---|---|---|
| ２次元表示型角度分解型光電子分析器 | 立体原子顕微鏡 | エネルギー200～1000eV、エネルギー分解能0.25eV、測定角度±60°、角度分解能0.6° |
参考文献
| 文献名 |
|---|
| Phys. Rev. Lett. 86, 2034 (2001) |
関連する手法
光電子分光、光電子回折、光電子ホログラフィー、蛍光X線ホログラフィー、X線回折
アンケート
SPring-8だからできた測定。他の施設では不可能もしくは難しい
測定の難易度
中程度
データ解析の難易度
中程度
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
2～3シフト