グラファイトの原子配列を立体視
Inquiry number
SOL-0000001504
Beamline
BL25SU (Soft X-ray Spectroscopy of Solid)
Scientific keywords
| A. Sample category | inorganic material, research on method, instrumentation |
|---|---|
| B. Sample category (detail) | metal, alloy, semiconductor, solid-state crystal |
| C. Technique | X-ray diffraction, X-ray elastic scattering, photoemission, photoionization |
| D. Technique (detail) | photoelectron spectra, photoelectron holography |
| E. Particular condition | polarization (circular), 2D imaging, ultra-high vacuum, surface, interface |
| F. Photon energy | soft X-ray |
| G. Target information | local structure, structure analysis, crystal structure, phase transition |
Industrial keywords
| level 1---Application area | Semiconductor |
|---|---|
| level 2---Target | silicon semiconductor, compound semiconductor, catalysis |
| level 3---Target (detail) | |
| level 4---Obtainable information | d-spacing (lattice parameter), interatomic distance, crystal structure, local structure, adsorption |
| level 5---Technique | XPS, diffraction |
Classification
A30.20 surface・interface, A40.40 surface・interface chemistry, A80.12 semiconductor, A80.20 metal ・material, M10.10 single crystal diffraction, M10.30 surface・interface diffraction, M50.10 photoelectron spectroscopy
Body text
立体原子顕微鏡は 原子配列を調べることのできるユニークな手法です。この手法を用いることで、表面や不純物の局所構造を測定することができます。この測定法は注目する元素を選択して、その周囲の局所構造が測定できます。測定対象には、必ずしも原子配列の長距離秩序は必要ありません。また、軽元素に関しても測定が可能です。図に示すのは、グラファイトについて測定した立体原子像です。この結果から、立体電子顕微鏡が精度良く原子の位置を測定できることが分かりました。
[ F. Matsui, H. Daimon, F. Z. Guo and T. Matsushita, Applied Physics Letters 85, 3737-3739 (2004), Fig. 2,
©2004 American Institute of Physics ]
Source of the figure
Original paper/Journal article
Journal title
Appl. Phys. Lett. 85,3737 (2004)
Figure No.
2
Technique
立体原子顕微鏡は、原子の局所構造を調べられるユニークな測定方法です。右円偏光および、左円偏光で励起した２枚の光電子回折パターンは原子の局所構造のステレオ写真になります。この方法は、電気伝導性を有する結晶、表面吸着子、界面原子、結晶内不純物に適用でき、原子の局所構造に関する情報を得ることができます。
Source of the figure
No figure
Required time for experimental setup
1 day(s)
Instruments
| Instrument | Purpose | Performance |
|---|---|---|
| ２次元表示型角度分解型光電子分析器 | 立体原子顕微鏡 | エネルギー200～1000eV、エネルギー分解能0.25eV、測定角度±60°、角度分解能0.6° |
References
| Document name |
|---|
| Phys. Rev. Lett. 86, 2034 (2001) |
Related experimental techniques
光電子分光、光電子回折、光電子ホログラフィー、蛍光X線ホログラフィー、X線回折
Questionnaire
The measurement was possible only in SPring-8. Impossible or very difficult in other facilities.
Ease of measurement
Middle
Ease of analysis
Middle
How many shifts were needed for taking whole data in the figure?
Two-three shifts