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BL26B1B2 実験ハッチ3

Inquiry number

INS-0000000497

その他の装置

  • 低温窒素ガス吹き付け装置(温度制御範囲: 90 ~ 300K)
  • XAFS測定用Si ピンフォトダイオード検出器
  • 蛍光測定用マルチチャンネルアナライザー
  • 自動アッテネータ選択機能
  • 自動ループセンタリングソフトウェア
  • データ処理・解析ソフトウェア
    • CCP4, XDS, CrystalClear (RIGAKU/MSC), HKL2000 (HKL Research, Inc.)
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