Low-temperature white X-ray topography
問い合わせ番号
SOL-0000000920
ビームライン
BL28B2（白色Ｘ線回折）
学術利用キーワード
| A. 試料 | 無機材料 |
|---|---|
| B. 試料詳細 | 半導体, 誘電体・強誘電体, 結晶 |
| C. 手法 | Ｘ線回折 |
| D. 手法の詳細 | |
| E. 付加的測定条件 | 二次元画像計測, 低温（〜液体ヘリウム） |
| F. エネルギー領域 | Ｘ線（>40 keV） |
| G. 目的・欲しい情報 | 構造変化, 相転移 |
産業利用キーワード
| 階層1 | 半導体 |
|---|---|
| 階層2 | シリコン系半導体, コンデンサー |
| 階層3 | 容量膜 |
| 階層4 | 結晶構造 |
| 階層5 | イメージング |
分類
A80.12 半導体・電子材料, A80.30 無機材料, M10.10 単結晶回折
利用事例本文
White X-ray topography is a powerful technique to study the zone boundary phase transition. Using this technique, one can measure spontaneous strain of strontium titanate in a short measuring time. Figures show white X-ray topographs of domain structure in strontium titanate. These data reveal the temperature dependence of spontaneous strain.
Fig. White X-ray topographs of domains and temperature dependence of spontaneous strain in the (100) plate of strontium titanate.
[ T. Ozaki, K. Kusunose, H. Sakaue, K. Kajiwara, H. Okamoto, Y. Chikaura and T. Suzuki, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B 238, 255-258 (2005), Fig. 2,
©2005 Elsevier Science Publisher ]
画像ファイルの出典
原著論文/解説記事
誌名
T. Ozaki, K. Kusunose, H. Sakaue, H. Okamoto, K. Kajiwara, Y. Suzuki and Y. Chikaura, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B 238 (2005) 255–258
図番号
2
測定手法
Fig.1 White X-ray topographic imaging of domain structure in strontium titanate. The hill and valley structure of the (1-10) plane splits the diffraction vector g into gA for the domain A and gB for the domain B. The overlap of the images of A and B forms the bright stripes, while the separation of the images of A and B forms the dark stripes, on the image taken with CCD camera. The stripes are parallel to the domain walls as well as g. The splitting between the bright and dark stripes S is related to the camera distance D according to the formula, S=2Dtan[sin-1(sin2φsinθB)]≈4DφsinθB.
[ T. Ozaki, K. Kusunose, H. Sakaue, K. Kajiwara, H. Okamoto, Y. Chikaura and T. Suzuki, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B 238, 255-258 (2005), Fig. 1,
©2005 Elsevier Science Publisher ]
画像ファイルの出典
原著論文/解説記事
誌名
T. Ozaki, K. Kusunose, H. Sakaue, H. Okamoto, K. Kajiwara, Y. Suzuki and Y. Chikaura, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B 238 (2005) 255–258
図番号
1
測定準備に必要なおおよその時間
24 時間
測定装置
| 装置名 | 目的 | 性能 |
|---|---|---|
| X-ray imaging camera | Imaging detecter |
参考文献
| 文献名 |
|---|
| T. Ozaki, I. Fijimoto, K. Mizuno, S. Iida, K. Kajiwara, T. Taira, J. Yoshimura, T. Shimura, Y. Chikaura, Nucl. Instr. Meth. Phys. Res. B 199 (2003) 81-84 |
関連する手法
アンケート
SPring-8だからできた測定。他の施設では不可能もしくは難しい
測定の難易度
中程度
データ解析の難易度
中程度
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
2～3シフト