大型放射光施設 SPring-8

コンテンツへジャンプする
» ENGLISH
パーソナルツール
 

Studying of generation process of Pd cluster in zeolite

問い合わせ番号

SOL-0000001010

ビームライン

BL28B2(白色X線回折)

学術利用キーワード

A. 試料 無機材料
B. 試料詳細 金属・合金
C. 手法 吸収、及びその二次過程
D. 手法の詳細 XAFS, EXAFS, XANES
E. 付加的測定条件 高温(〜500度), 時分割(比較的遅い)
F. エネルギー領域 X線(4~40 keV)
G. 目的・欲しい情報 化学状態, 局所構造, 構造解析, 構造変化

産業利用キーワード

階層1 環境, 化学製品
階層2 触媒
階層3
階層4 原子間距離, 局所構造, 化学状態
階層5 XAFS

分類

A80.34 触媒化学, M40.10 XAFS

利用事例本文

In this solution, Energy-dispersive XAFS (DXAFS) was applied to Pd cluster loaded on H-ZSM5 during temperature-programmed heating in a H2 flow to analyze Pd K-edge EXAFS spectra. DXAFS is a powerful tool for studying dynamic structural changes of materials during chemical reactions. Using this technique, it becomes possible to obtain XAFS spectrum with time resolution of less than 1 second. These data reveal the fact that the stable metal Pd6 clusters was generated on the zeolite in a reduction atmosphere.

Figure. Pd K-edge EXAFS Fourier transforms for Pd loaded on H-ZSM5 measured in H2 flow.

[ K. Okumura, R. Yoshimoto, T. Uruga, H. Tanida, K. Kato, S. Yokota and M. Niwa, The Journal of Physical Chemistry B 108, 6250-6255 (2004), Fig. 5(b), 7(a),
©2004 American Chemical Society ]

画像ファイルの出典

原著論文/解説記事

誌名

Journal of Physical Chemistry B 108(2004)6250

図番号

5(b),7(a)

測定手法

Energy dispersive XAFS (DXAFS) is a powerful technique to study of dynamic structural changes of materials.  The technique is applicable to materials during chemical or physical reactions and provides knowledge about a reaction intermediate and the generation process of materials.

画像ファイルの出典

私信等、その他

詳細

測定準備に必要なおおよその時間

6 時間

測定装置

装置名 目的 性能
Energy-dispersive XAFS Time resoived XAFS measurement energy region:7-40keV, time resolution:tens of milliseconds to seconds

参考文献

文献名
Journal of Physical Chemistry B 108(2004)6250

関連する手法

アンケート

本ビームラインの主力装置を使っている

測定の難易度

中程度

データ解析の難易度

中程度

図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数

1シフト以下

最終変更日