White X-ray topography of organic crystals
問い合わせ番号
SOL-0000001025
ビームライン
BL28B2（白色Ｘ線回折）
学術利用キーワード
| A. 試料 | 有機材料 |
|---|---|
| B. 試料詳細 | 結晶, 蛋白質 |
| C. 手法 | Ｘ線回折 |
| D. 手法の詳細 | |
| E. 付加的測定条件 | 二次元画像計測 |
| F. エネルギー領域 | |
| G. 目的・欲しい情報 | 欠陥、転位、歪み |
産業利用キーワード
| 階層1 | 工業材料, その他 |
|---|---|
| 階層2 | シリコン系半導体 |
| 階層3 | |
| 階層4 | 格子定数 |
| 階層5 | 回折 |
分類
A80.32 有機材料, M10.10 単結晶回折
利用事例本文
Laue topography using synchrotron radiation is one of the best methods for observing crystal lattice defects. One Laue photograph can show many Bragg spots from different lattice planes in a short exposure time of less than one minute. The Burgers vectors are determined by these topographs.
Fig. Laue pattern and topographs of Lysozyme crystal, crystal to the camera distance; 25 cm, exposure time; 20 sec. Laue pattern (a), and enlarged image of spot 2 (b) and spot 4 (c). Arrows in (b) and (c) show the g vectors.
画像ファイルの出典
BL評価レポート
ページ
57
測定手法
One Laue photograph can show many Bragg spots from different lattice planes in a short exposure time of less than one minute.
Fig.1 White X-ray topography.
画像ファイルの出典
私信等、その他
詳細
測定準備に必要なおおよその時間
2 時間
測定装置
| 装置名 | 目的 | 性能 |
|---|---|---|
| water filter | decrease radiation damage | |
| fast shutter | minimum exposure time: 1msec | |
| X-ray film |
参考文献
関連する手法
アンケート
本ビームラインの主力装置を使っている
測定の難易度
初心者でもOK
データ解析の難易度
中程度
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
1シフト以下