SPring-8, the large synchrotron radiation facility

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有機結晶のトポグラフィ

  • For beginners

Inquiry number

SOL-0000001527

Beamline

BL28B2 (White Beam X-ray Diffraction)

Scientific keywords

A. Sample category organic material
B. Sample category (detail) crystal, protein
C. Technique X-ray diffraction
D. Technique (detail)
E. Particular condition 2D imaging
F. Photon energy
G. Target information dislocation, strain

Industrial keywords

level 1---Application area industrial material, others
level 2---Target silicon semiconductor
level 3---Target (detail)
level 4---Obtainable information d-spacing (lattice parameter)
level 5---Technique diffraction

Classification

A80.32 organic material, M10.10 single crystal diffraction

Body text

白色X線トポグラフィは、ワンショットで、異なる回折指数のトポグラフ像が得られる手法です。この手法を用いることで、長時間露出や試料の固定が難しい有機結晶の転位の性質を調べることができます。図はたんぱく質のトポグラフ像です。同時に得られたこれらのトポグラフ像から、この転位線のバーガースベクトルを決定することができます。

図 リゾチーム単結晶のトポグラフ像。(a)ラウエ写真、(b)スポット2の拡大像および(c)スポット4の拡大像。

Source of the figure

Beamline Report

Page

57

Technique

図1に示すように、指向性の高い白色X線を試料に入射することで、回折指数の異なるトポグラフ像を一度に得ることができる。

white-xray-topo.jpg

図1. 白色X線トポグラフィ。それぞれの回折スポットが回折指数の異なるトポグラフ像になっている。

Source of the figure

Private communication/others

Description

Required time for experimental setup

2 hour(s)

Instruments

Instrument Purpose Performance
水フィルター 試料の損傷を軽減する
高速シャッタ ミリ秒露出時間調整 最短露出時間1msec
X線フィルム 二次元検出器

References

Related experimental techniques

Questionnaire

This solution is an application of a main instrument of the beamline.

Ease of measurement

Easy

Ease of analysis

Middle

How many shifts were needed for taking whole data in the figure?

Less than one shift

Last modified