有機結晶のトポグラフィ
Inquiry number
SOL-0000001527
Beamline
BL28B2 (White Beam X-ray Diffraction)
Scientific keywords
A. Sample category | organic material |
---|---|
B. Sample category (detail) | crystal, protein |
C. Technique | X-ray diffraction |
D. Technique (detail) | |
E. Particular condition | 2D imaging |
F. Photon energy | |
G. Target information | dislocation, strain |
Industrial keywords
level 1---Application area | industrial material, others |
---|---|
level 2---Target | silicon semiconductor |
level 3---Target (detail) | |
level 4---Obtainable information | d-spacing (lattice parameter) |
level 5---Technique | diffraction |
Classification
A80.32 organic material, M10.10 single crystal diffraction
Body text
白色X線トポグラフィは、ワンショットで、異なる回折指数のトポグラフ像が得られる手法です。この手法を用いることで、長時間露出や試料の固定が難しい有機結晶の転位の性質を調べることができます。図はたんぱく質のトポグラフ像です。同時に得られたこれらのトポグラフ像から、この転位線のバーガースベクトルを決定することができます。
図 リゾチーム単結晶のトポグラフ像。(a)ラウエ写真、(b)スポット2の拡大像および(c)スポット4の拡大像。
Source of the figure
Beamline Report
Page
57
Technique
図1に示すように、指向性の高い白色X線を試料に入射することで、回折指数の異なるトポグラフ像を一度に得ることができる。
図1. 白色X線トポグラフィ。それぞれの回折スポットが回折指数の異なるトポグラフ像になっている。
Source of the figure
Private communication/others
Description
Required time for experimental setup
2 hour(s)
Instruments
Instrument | Purpose | Performance |
---|---|---|
水フィルター | 試料の損傷を軽減する | |
高速シャッタ | ミリ秒露出時間調整 | 最短露出時間1msec |
X線フィルム | 二次元検出器 |
References
Related experimental techniques
Questionnaire
This solution is an application of a main instrument of the beamline.
Ease of measurement
Easy
Ease of analysis
Middle
How many shifts were needed for taking whole data in the figure?
Less than one shift