X-ray diffraction microscopy
問い合わせ番号
SOL-0000000970
ビームライン
BL29XU（理研 物理科学I）
学術利用キーワード
| A. 試料 | 無機材料, 有機材料, 生物・医学 |
|---|---|
| B. 試料詳細 | 金属・合金, 半導体, 絶縁体・セラミックス, 結晶性固体, 非晶質、ガラス, 生体組織、細胞系等, 生体材料 |
| C. 手法 | Ｘ線回折 |
| D. 手法の詳細 | コヒーレント散乱, 位相計測, スペックル |
| E. 付加的測定条件 | 二次元画像計測, 三次元画像計測（ＣＴ等）, 高分解能画像計測（顕微鏡） |
| F. エネルギー領域 | Ｘ線（4～40 keV) |
| G. 目的・欲しい情報 | 構造解析 |
産業利用キーワード
| 階層1 | 製薬 |
|---|---|
| 階層2 | ドラッグデザイン, 食品, 環境物質 |
| 階層3 | 生体 |
| 階層4 | |
| 階層5 | 回折, イメージング |
分類
A80.12 半導体・電子材料, A80.30 無機材料, A80.32 有機材料, A80.90 その他
利用事例本文
X-ray diffraction microscopy is a unique technique to reconstruct a sample image from its oversampled diffraction intensity pattern. Using this technique, one can determine electron density distribution without need of sample crystallization.
The following figures show the diffraction intensity pattern and the 2D reconstruction of Escherichia coli bacteria.
Fig. X-ray diffraction intensity pattern of Escherichia coli bacteria
Fig. Image of Escherichia coli bacteria reconstructed from the diffraction intensity pattern
[ J. Miao, K. O. Hodgson, T. Ishikawa, C. A. Larabell, M. A. LeGros and Y. Nishino, Proceedings of National Academy of Science of the USA 100, 110-112 (2003), Fig. 1A, 2,
©2003 National Academy of Science ]
画像ファイルの出典
原著論文/解説記事
誌名
J. Miao, K.O. Hodgson, T. Ishikawa, C.A. Larabell, M.A. LeGros, and Y. Nishino， Proc. Natl. Acad. Sci. USA 100, 110 (2003)
図番号
1A,2
測定手法
A sample is illuminated by coherent x-rays and its Fraunhofer diffraction intensities are measured using a two-dimensional x-ray detector.
画像ファイルの出典
図なし
測定準備に必要なおおよその時間
24 時間
測定装置
| 装置名 | 目的 | 性能 |
|---|---|---|
| x-ray diffraction microscope |
参考文献
| 文献名 |
|---|
| J. Miao, Y. Nishino, Y. Kohmura, B. Johnson, C. Song, S.H. Risbud, and T. Ishikawa, Phys. Rev. Lett. 95, 085503 (2005) |
| Y. Nishino, J. Miao, and T. Ishikawa, Phys. Rev. B 68, 220101(R) (2003) |
| J. Miao, J.E. Amonette, Y. Nishino, T.I shikawa, and K.O. Hodgson, Phys. Rev. B 68, 012201 (2003) |
| J. Miao, T.Ishikawa, E.H. Anderson, and K.O. Hodgson, Phys. Rev. B 67, 174104 (2003) |
| J. Miao, K.O. Hodgson, T. Ishikawa, C.A. Larabell, M.A. LeGros, and Y. Nishino, Proc. Natl. Acad. Sci. USA 100, 110 (2003) |
| J. Miao, T. Ishikawa, B. Johnson, E.H. Anderson, B. Lai, and K.O. Hodgson, Phys. Rev. Lett. 89, 088303 (2002) |
関連する手法
アンケート
ユーザー持ち込み装置を使った
測定の難易度
熟練が必要
データ解析の難易度
熟練が必要
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
2～3シフト