Atomic-resolution x-ray holography
問い合わせ番号
SOL-0000001060
ビームライン
BL29XU（理研 物理科学I）
学術利用キーワード
| A. 試料 | 無機材料 |
|---|---|
| B. 試料詳細 | 金属・合金, 半導体, 絶縁体・セラミックス, 結晶 |
| C. 手法 | 吸収、及びその二次過程, 蛍光Ｘ線 |
| D. 手法の詳細 | 蛍光Ｘ線ホログラフィー |
| E. 付加的測定条件 | 三次元画像計測（ＣＴ等）, 高分解能画像計測（顕微鏡） |
| F. エネルギー領域 | Ｘ線（4～40 keV) |
| G. 目的・欲しい情報 | 構造解析 |
産業利用キーワード
| 階層1 | その他 |
|---|---|
| 階層2 | |
| 階層3 | |
| 階層4 | |
| 階層5 | イメージング |
分類
A80.12 半導体・電子材料, A80.20 金属・構造材料, A80.30 無機材料, A80.32 有機材料
利用事例本文
Atomic-resolution x-ray holography is a unique technique to visualize three-dimensional atomic structure. Using this technique, one can measure local structure around a specific atomic element.
The following figures show a hologram and a three-dimensional reconstruction of a ZnSe sample.
Fig. Hologram of ZnSe
Fig. Three-dimensional reconstruction of ZnSe
[ Y. Nishino, T. Ishikawa, K. Hayashi, Y. Takahashi and E. Matsubara, Physical Review B 66, 092105 (2002), Fig. 3, 4,
©2002 American Physical Society ]
画像ファイルの出典
原著論文/解説記事
誌名
Y. Nishino, T. Ishikawa, K. Hayashi, Y. Takahashi, and E. Matsubara, Phys. Rev. B 66, 092105 (2002)
図番号
3,4
測定手法
In internal-detector atomic-resolution x-ray holography, fluorescent x-ray intensities are measured at various incident angles. Fluorescent X-ray spectroscopy is performed using an analyzer crystal or an energy dispersive x-ray detector.
Fig. Schematic view of atomic-resolution x-ray holography instrument
[ Y. Nishino, T. Ishikawa, K. Hayashi, Y. Takahashi and E. Matsubara, Physical Review B 66, 092105 (2002), Fig. 2,
©2002 American Physical Society ]
画像ファイルの出典
原著論文/解説記事
誌名
Y. Nishino, T. Ishikawa, K. Hayashi, Y. Takahashi, and E. Matsubara, Phys. Rev. B 66, 092105 (2002)
図番号
2
測定準備に必要なおおよその時間
12 時間
測定装置
参考文献
| 文献名 |
|---|
| Y. Nishino, T. Ishikawa, K. Hayashi, Y. Takahashi, and E. Matsubara, Phys. Rev. B 66, 092105 (2002) |
関連する手法
アンケート
ユーザー持ち込み装置を使った
測定の難易度
熟練が必要
データ解析の難易度
熟練が必要
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
10シフト以上