Off-axis holography
問い合わせ番号
SOL-0000001103
ビームライン
BL29XU（理研 物理科学I）
学術利用キーワード
| A. 試料 | 計測法、装置に関する研究 |
|---|---|
| B. 試料詳細 | |
| C. 手法 | Ｘ線回折 |
| D. 手法の詳細 | 位相計測 |
| E. 付加的測定条件 | 二次元画像計測 |
| F. エネルギー領域 | Ｘ線（4～40 keV) |
| G. 目的・欲しい情報 | 形態・巨視的構造 |
産業利用キーワード
| 階層1 | |
|---|---|
| 階層2 | |
| 階層3 | |
| 階層4 | 形態 |
| 階層5 | 回折, イメージング |
分類
M60.20 Ｘ線ＣＴ
利用事例本文
A wave front dividing interferometer with a prism was applied to two-beam off-axis holography. The x-ray phase shift due to the amorphous carbon particles was quantitatively determined with the background of the phase image being as small as approximately 1/100 of wavelength (standard deviation) using 12.4 keV X-ray.
The following figures show the experimental setup, the interference pattern observed for the amorphous carbon particles and the complex amplitude distribution at the exit surface of the specimen. Bottom left and bottom right figures show the transmissivity and the phase shift distribution of the specimen.
[ Y. Kohmura, T. Sakurai, T. Ishikawa and Y. Suzuki, Journal of Applied Physics 96, 1781-1784 (2004), Fig. 1, 3, 4,
©2004 American Institute of Physics ]
画像ファイルの出典
原著論文/解説記事
誌名
Journal of Applied Physics, 96, 4, 1781 (2004)
図番号
1,3,4
測定手法
Complex amplitude at the detector plane, which were derived from the hologram using the fringe scanning method, were inversely transformed to those at the exit surface of the specimen. By the complete separation of the reference wave and the object wave, retrieved image does not suffer the twin image problem.
画像ファイルの出典
図なし
測定準備に必要なおおよその時間
12 時間
測定装置
| 装置名 | 目的 | 性能 |
|---|---|---|
| Kouzu Diffractometer | Aligning sample | |
| Hamamatsu Photonics zooming tube Zooming tube | high resolution detector |
参考文献
| 文献名 |
|---|
| Y.Kohmura et al., Journal of Applied Physics, 96, 4, 1781 (2004) |
関連する手法
アンケート
SPring-8だからできた測定。他の施設では不可能もしくは難しい
本ビームラインの主力装置を使っている
測定の難易度
初心者でもOK
データ解析の難易度
熟練が必要
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
2～3シフト