大型放射光施設 SPring-8

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パーソナルツール
 

全反射ミラーを用いた高エネルギーX線マイクロビーム

  • Spring8ならでは
  • 初心者向け

問い合わせ番号

SOL-0000001572

ビームライン

BL37XU(分光分析)

学術利用キーワード

A. 試料 計測法、装置に関する研究
B. 試料詳細
C. 手法 蛍光X線
D. 手法の詳細 XAFS, 微量元素分析
E. 付加的測定条件 マイクロビーム(1-10μm)
F. エネルギー領域 X線(4~40 keV), X線(>40 keV)
G. 目的・欲しい情報 化学状態, 局所構造, 元素分析(組成), 元素分析(微量)

産業利用キーワード

階層1 その他
階層2
階層3
階層4 元素分布
階層5

分類

利用事例本文

この事例は,高エネルギーX線領域で,全反射ミラーを用いて,マイクロビームを得るものです。
図に示すように,X線エネルギー37keVという高エネルギー領域において,1ミクロン程度のマイクロビームが得られるようになりました。

図 X線エネルギー37keVでのK-Bミラーによるビームプロファイル

画像ファイルの出典

私信等、その他

詳細

測定手法

この方法は,2枚の全反射ミラーを組み合わせて,縦方向,横方向それぞれにX線を集光するものです(K-Bミラー)。これを用いると,20-100keV程度までのX線を1ミクロン前後に集光することができます。これまでは,良質な高エネルギーX線が得られなかったことと,本気でこのエネルギー領域のミラーを作ろうとした人がいなかったため,現在では我々のグループのみによる技術です。

画像ファイルの出典

図なし

測定準備に必要なおおよその時間

6 時間

測定装置

装置名 目的 性能
高エネルギーX線マイクロビーム調整装置 K-Bミラーを用いたマイクロビーム生成 ビームサイズ1ミクロン前後

参考文献

関連する手法

アンケート

SPring-8だからできた測定。他の施設では不可能もしくは難しい
同種実験は本ビームラインの課題の30%以上を占めている
最近2年以内に導入した装置を使った事例

測定の難易度

熟練が必要

データ解析の難易度

初心者でもOK

図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数

2~3シフト

最終変更日 2006-03-30 21:02