全反射ミラーを用いた高エネルギーX線マイクロビーム
問い合わせ番号
SOL-0000001572
ビームライン
BL37XU(分光分析)
学術利用キーワード
A. 試料 | 計測法、装置に関する研究 |
---|---|
B. 試料詳細 | |
C. 手法 | 蛍光X線 |
D. 手法の詳細 | XAFS, 微量元素分析 |
E. 付加的測定条件 | マイクロビーム(1-10μm) |
F. エネルギー領域 | X線(4~40 keV), X線(>40 keV) |
G. 目的・欲しい情報 | 化学状態, 局所構造, 元素分析(組成), 元素分析(微量) |
産業利用キーワード
階層1 | その他 |
---|---|
階層2 | |
階層3 | |
階層4 | 元素分布 |
階層5 |
分類
利用事例本文
この事例は,高エネルギーX線領域で,全反射ミラーを用いて,マイクロビームを得るものです。
図に示すように,X線エネルギー37keVという高エネルギー領域において,1ミクロン程度のマイクロビームが得られるようになりました。
図 X線エネルギー37keVでのK-Bミラーによるビームプロファイル
画像ファイルの出典
私信等、その他
詳細
測定手法
この方法は,2枚の全反射ミラーを組み合わせて,縦方向,横方向それぞれにX線を集光するものです(K-Bミラー)。これを用いると,20-100keV程度までのX線を1ミクロン前後に集光することができます。これまでは,良質な高エネルギーX線が得られなかったことと,本気でこのエネルギー領域のミラーを作ろうとした人がいなかったため,現在では我々のグループのみによる技術です。
画像ファイルの出典
図なし
測定準備に必要なおおよその時間
6 時間
測定装置
装置名 | 目的 | 性能 |
---|---|---|
高エネルギーX線マイクロビーム調整装置 | K-Bミラーを用いたマイクロビーム生成 | ビームサイズ1ミクロン前後 |
参考文献
関連する手法
アンケート
SPring-8だからできた測定。他の施設では不可能もしくは難しい
同種実験は本ビームラインの課題の30%以上を占めている
最近2年以内に導入した装置を使った事例
測定の難易度
熟練が必要
データ解析の難易度
初心者でもOK
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
2~3シフト