黄砂１粒子の放射光-SEMによる評価
問い合わせ番号
SOL-0000001583
ビームライン
BL37XU（分光分析）
学術利用キーワード
| A. 試料 | 無機材料 |
|---|---|
| B. 試料詳細 | 環境関連物質 |
| C. 手法 | 蛍光Ｘ線, 光電離、二次電子 |
| D. 手法の詳細 | 微量元素分析, 二次電子、オージェ電子分光 |
| E. 付加的測定条件 | |
| F. エネルギー領域 | Ｘ線（4～40 keV) |
| G. 目的・欲しい情報 | 形態・巨視的構造, 元素分析（組成） |
産業利用キーワード
| 階層1 | 環境 |
|---|---|
| 階層2 | 環境物質 |
| 階層3 | |
| 階層4 | 元素分布 |
| 階層5 |
分類
利用事例本文
本事例ではSEMと放射光を組み合わせることにより，黄砂1粒子のような微細な試料の評価を可能とすることを目的とした。これにより，SEMで形態観察をした後，全く同じ試料に関して放射光蛍光X線分析が可能となる。図に示したのは，黄砂粒子の分析結果である。このように，従来法では，同一の試料を2つのプローブに対して用いるのは困難であったが，本法により十分可能であることを示した。
図 黄砂粒子のSEM-SR-XRF分析結果
画像ファイルの出典
所内報
誌名
User Exp. Rep. 04A
ページ
170
測定手法
SEMには低真空SEMを用いている。X線エネルギーは8keV，スリットにより50ミクロンに整形したX線をSEM室に導入した。
画像ファイルの出典
図なし
測定準備に必要なおおよその時間
1 シフト
測定装置
| 装置名 | 目的 | 性能 |
|---|---|---|
| 低真空SEM | 形態観察，試料位置の特定 |
参考文献
関連する手法
アンケート
測定の難易度
中程度
データ解析の難易度
中程度
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
4～9シフト
最終変更日
2006-03-30 21:21