高エネルギーX線領域での波長分散検出系の開発
Inquiry number
SOL-0000001586
Beamline
BL37XU (Trace Element Analysis)
Scientific keywords
| A. Sample category | research on method, instrumentation |
|---|---|
| B. Sample category (detail) | |
| C. Technique | X-ray diffraction, fluorescent X-rays |
| D. Technique (detail) | diffraction, scattering |
| E. Particular condition | |
| F. Photon energy | X-ray (> 40 keV) |
| G. Target information | chemical state, trace element |
Industrial keywords
| level 1---Application area | |
|---|---|
| level 2---Target | |
| level 3---Target (detail) | |
| level 4---Obtainable information | element distribution |
| level 5---Technique |
Classification
Body text
本事例は，高エネルギーX線領域での蛍光X線分析において，波長分散による検出系の構築を試みたものです。これにより，K線の高次光による化学状態分析などが期待されます。図に示すのは，本法によりセリウムのK線を分光したもので，34keV付近でありながら85eVと高いエネルギー分解能をもつことがわかりました。
図 セリウムKa線のプロファイル
Source of the figure
Bulletin from SPring-8
Bulletin title
Usr Eｘｐ．Rep. 04A
Page
167
Technique
本測定は，高エネルギーX線を活かした新しい計測手法の開発的位置づけとなります。図に示すのは，実験のセットアップです。X線エネルギーは75.5keV，分光結晶からの回折線の記録にはイメージングプレートを用いました。これにより，従来では到達できなかった，高いエネルギー分解能を示す検出系となることが期待されます。
図 高エネルギーX線用波長分散型検出系
Source of the figure
Bulletin from SPring-8
Bulletin title
User Exp. Rep. 04A
Page
167
Required time for experimental setup
2 shift(s)
Instruments
References
Related experimental techniques
Questionnaire
The measurement was possible only in SPring-8. Impossible or very difficult in other facilities.
With user's own instruments.
Ease of measurement
With a great skill
Ease of analysis
With a great skill
How many shifts were needed for taking whole data in the figure?
More than ten shifts