高エネルギーX線領域での波長分散検出系の開発
問い合わせ番号
SOL-0000001586
ビームライン
BL37XU（分光分析）
学術利用キーワード
| A. 試料 | 計測法、装置に関する研究 |
|---|---|
| B. 試料詳細 | |
| C. 手法 | Ｘ線回折, 蛍光Ｘ線 |
| D. 手法の詳細 | 蛍光Ｘ線(回折、散乱) |
| E. 付加的測定条件 | |
| F. エネルギー領域 | Ｘ線（>40 keV） |
| G. 目的・欲しい情報 | 化学状態, 元素分析（微量） |
産業利用キーワード
| 階層1 | |
|---|---|
| 階層2 | |
| 階層3 | |
| 階層4 | 元素分布 |
| 階層5 |
分類
利用事例本文
本事例は，高エネルギーX線領域での蛍光X線分析において，波長分散による検出系の構築を試みたものです。これにより，K線の高次光による化学状態分析などが期待されます。図に示すのは，本法によりセリウムのK線を分光したもので，34keV付近でありながら85eVと高いエネルギー分解能をもつことがわかりました。
図 セリウムKa線のプロファイル
画像ファイルの出典
所内報
誌名
Usr Eｘｐ．Rep. 04A
ページ
167
測定手法
本測定は，高エネルギーX線を活かした新しい計測手法の開発的位置づけとなります。図に示すのは，実験のセットアップです。X線エネルギーは75.5keV，分光結晶からの回折線の記録にはイメージングプレートを用いました。これにより，従来では到達できなかった，高いエネルギー分解能を示す検出系となることが期待されます。
図 高エネルギーX線用波長分散型検出系
画像ファイルの出典
所内報
誌名
User Exp. Rep. 04A
ページ
167
測定準備に必要なおおよその時間
2 シフト
測定装置
参考文献
関連する手法
アンケート
SPring-8だからできた測定。他の施設では不可能もしくは難しい
ユーザー持ち込み装置を使った
測定の難易度
熟練が必要
データ解析の難易度
熟練が必要
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
10シフト以上