Magnetic moment of the Pt overlayer in Pt/Co bilayers
問い合わせ番号
SOL-0000001026
ビームライン
BL39XU（X線吸収・発光分光）
学術利用キーワード
| A. 試料 | 無機材料 |
|---|---|
| B. 試料詳細 | 磁性体, 人工多層膜 |
| C. 手法 | 吸収、及びその二次過程 |
| D. 手法の詳細 | XAFS, XANES, MCD, LD |
| E. 付加的測定条件 | 偏光（円、楕円）, 室温, 磁場（< 2 T） |
| F. エネルギー領域 | Ｘ線（4～40 keV) |
| G. 目的・欲しい情報 | スピン・磁性構造 |
産業利用キーワード
| 階層1 | 記憶装置 |
|---|---|
| 階層2 | HD、MO |
| 階層3 | 磁性層, 磁気ヘッド, スピンバルブ膜 |
| 階層4 | 磁化, 磁気異方性, 界面磁気構造 |
| 階層5 | XAFS, NEXAFS, XMCD |
分類
A80.14 磁性材料, M40.10 XAFS, M40.30 磁気吸収
利用事例本文
X-ray magnetic circular dichroism (XMCD) spectroscopy is a unique technique to study magnetism of a particular element in the magnetic sample. Using this technique, one can separate magnetization of each elements in a sample that consists of several magnetic elements or magnetic and non-magnetic elements. The technique allows high-sensitive detection of weak magnetization induced in non-magnetic elements, such as Cu, Pt, and Au. The figure shows XMCD spectra of Pt/Co bilayers with different Pt overlayer thicknesses. From an analysis of these data, the induced magnetic moment in an interface Pt atom was estimated to be 0.6 B. The depth profile of Pt magnetization was determined as a function of the distance from the Pt-Co interface.
Fig. X-ray magnetic circular dichroism (XMCD) spectra in Pt/Co bilayers, measured at the Pt L2,3 edges.
[ M. Suzuki and H. Muraoka, Journal of the Japanese Society for Synchrotron Radiation Research 17, 201-207 (2004), Fig. 4,
©2004 The Japanese Society for Synchrotron Radiation Research ]
画像ファイルの出典
原著論文/解説記事
誌名
放射光 vol. 17, No. 4, p. 201 (2004).
図番号
Fig. 4
測定手法
An X-ray magnetic circular dichroism (XMCD) spectrum is measured by monitoring a small difference in X-ray absorption spectra between for right- and left-circular polarizations. In this solution, X-ray energy was tuned to the characteristic absorption edges of Pt to observe the magnetism of the Pt overlayer in Pt/Co bilayers.
Fig. Principle of X-ray magnetic circular dichroism (XMCD) measurement.
画像ファイルの出典
私信等、その他
詳細
鈴木基寛が作成しました。
測定準備に必要なおおよその時間
6 時間
測定装置
| 装置名 | 目的 | 性能 |
|---|---|---|
| Electromagnet and closed-cycle helium refrigerator | XMCD spectroscopy measurement | magnetic field ±2 T, sample temerature 20-300 K |
| Silicon drift detector | XMCD measurement in the fluorescense mode | Energy resolution~300 eV, count rate 2x10^5 cps |
参考文献
| 文献名 |
|---|
| M. Suzuki, H. Muraoka, Y. Inaba, H. Miyagawa, N. Kawamura, T. Shimatsu, H. Maruyama, N. Ishimatsu, Y. Isohama, and Y. Sonobe, Phys. Rev. B 72, 054430 (2005). |
| 鈴木基寛, 村岡裕明: 放射光 17, 201 (2004). |
関連する手法
VSM magnetometry, SQUID magnetometry, toruque magnetometry, X-ray magnetic diffraction, X-ray magnetic reflectometry
アンケート
SPring-8だからできた測定。他の施設では不可能もしくは難しい
本ビームラインの主力装置を使っている
同種実験は本ビームラインの課題の30%以上を占めている
測定の難易度
初心者でもOK
データ解析の難易度
中程度
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
4～9シフト