Induced Cu polarizations in exchange-coupled Co/Cu multilayers
問い合わせ番号
SOL-0000001082
ビームライン
BL39XU（X線吸収・発光分光）
学術利用キーワード
| A. 試料 | 無機材料 |
|---|---|
| B. 試料詳細 | 磁性体, 人工多層膜 |
| C. 手法 | Ｘ線回折 |
| D. 手法の詳細 | 磁気散乱 |
| E. 付加的測定条件 | 偏光（円、楕円）, 室温, 磁場（< 2 T） |
| F. エネルギー領域 | Ｘ線（4～40 keV) |
| G. 目的・欲しい情報 | スピン・磁性構造 |
産業利用キーワード
| 階層1 | 記憶装置 |
|---|---|
| 階層2 | HD、MO |
| 階層3 | 磁性層, 磁気ヘッド, スピンバルブ膜 |
| 階層4 | 磁化, 界面磁気構造 |
| 階層5 | 磁気散乱, 磁気コンプトン散乱, PEEM |
分類
A80.14 磁性材料, M25.10 磁気散乱
利用事例本文
Resonant X-ray magnetic scattering is a unique technique to study the magnetization distribution inside a layered magnetic film. Using this technique, one can measure the magnetization depth profile of each layer of magnetic multilayers consisting of 3d transition metals or rare-earth metals. Sensitivity of the technique is so high that a profile of small magnetization induced in a non-magnetic layer, such as Cu, can be determined. The figure shows magnetic scattering peaks of an exchange-coupled [Co(1.25 nm)/Cu(3.88 nm)]50 multilayer. These data indicate that magnetization of the Co layer is even distribution, while magnetization of the Cu layer is oscillatory damping as the distance from the interface.
Fig. Resonant X-ray magnetic scattering peaks in an exchange-coupled [Co(1.25 nm)/Cu(3.88 nm)]50 multilayer.
[ Y. Hayasaki, K. Ishiji, H. Hashizume, N. Hosoito, K. Omote, M. Kuribayashi, G. Srajer, J. C. Lang and D. Haskel, Journal of Physics :Condensed Matter 16, 1915-1925 (2004), Fig. 10,
©2004 Institute of Physics and IOP Publishing, Ltd. ]
画像ファイルの出典
原著論文/解説記事
誌名
Y. Hayasaki et al., J. Phys.: Condens. Matter 16, 1915 (2004).
図番号
Fig. 10
測定手法
Resonant X-ray magnetic scattering signals are recorded by monitoring a small difference in the diffraction intensities between for right- and left-circularly polarized X-rays. In this solution, X-ray energy is tuned to the K edge (Co: 7723 eV and Cu: 8992 eV) of each elements to obtain magnetic scattering peaks for Co and Cu.
画像ファイルの出典
図なし
測定準備に必要なおおよその時間
2 シフト
測定装置
| 装置名 | 目的 | 性能 |
|---|---|---|
| Two-axes diffractometer | Resonant X-ray magnetic scattering measurements | Angular resolution 0.36 arcsec/step, four-circle goniometer |
参考文献
| 文献名 |
|---|
| Y. Hayasaki, K. Ishiji, H. Hashizume, N. Hosoito, K. Omote, M. Kuribayashi, G. Srajer, J. C. Lang, and D. Haskel, J. Phys.: Condens. Matter 16, 1915 (2004). |
関連する手法
XMCD, X-ray magnetic circular dichroism, element-specific magnetometry, magnetoresistance measurements, SQUID magnetometry, VSM magnetometry
アンケート
SPring-8だからできた測定。他の施設では不可能もしくは難しい
ユーザー持ち込み装置を使った
測定の難易度
中程度
データ解析の難易度
熟練が必要
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
4～9シフト