Grain boundary characterization utilizing high-resolution X-ray CT and SEM/EBSP orientation analysis
問い合わせ番号
SOL-0000004508
ビームライン
BL47XU（マイクロCT）
学術利用キーワード
| A. 試料 | 無機材料 |
|---|---|
| B. 試料詳細 | 金属・合金, 結晶性固体 |
| C. 手法 | 吸収、及びその二次過程 |
| D. 手法の詳細 | |
| E. 付加的測定条件 | 三次元画像計測（ＣＴ等）, 界面, 室温, 時分割（比較的遅い） |
| F. エネルギー領域 | Ｘ線（4～40 keV) |
| G. 目的・欲しい情報 | 局所構造, 欠陥、転位、歪み, 構造変化, 形態・巨視的構造 |
産業利用キーワード
| 階層1 | 機械, 金属, 工業材料 |
|---|---|
| 階層2 | 構造材（鉄、非鉄） |
| 階層3 | |
| 階層4 | 亀裂、空隙, 内部構造, 形態 |
| 階層5 | イメージング |
分類
A80.20 金属・構造材料, A80.30 無機材料, M60.20 Ｘ線ＣＴ
利用事例本文
High-resolution X-ray computer tomography is a non-destructive inspection to study micro-defects of inside materials three dimensionally. An elemental mass ratio, i.e. concentration is investigated by the use of a linear absorption coefficient value, which is different from elementals in the X-ray CT. Figures show (a) distribution of gallium concentration obtained by X-ray CT and (b) grain orientation mapping investigated by SEM/EBSP analysis in the same region of a sample surface. High concentrations have been observed on grain boundary with a high misorientation angle that is considered having high energy. Dependence of the concentration on grain boundary character is revealed.
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原著論文/解説記事
誌名
小林正和，戸田裕之，他：軽金属学会第108回春期大会講演概要(2005)，p.215-216.
図番号
測定手法
画像ファイルの出典
図なし
測定準備に必要なおおよその時間
1 シフト
測定装置
| 装置名 | 目的 | 性能 |
|---|---|---|
| X-ray CT system | obtain 3D internal structures of materials | spatial resolution of about 1um |
参考文献
| 文献名 |
|---|
| 小林正和，戸田裕之，他：軽金属学会第108回春期大会講演概要(2005)，p.215-216. |
| M. Kobayashi, H. Toda, Scripta Mater., to be submitted. |
関連する手法
アンケート
SPring-8だからできた測定。他の施設では不可能もしくは難しい
本ビームラインの主力装置を使っている
測定の難易度
中程度
データ解析の難易度
中程度
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
2～3シフト