テーマN4 新規ナノ材料の精密結晶構造評価 (BL02B2)
配位高分子結晶のミクロ孔中でのメタノールの凝集状態および運動状態の観測 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,168KB
北川 進        京都大学大学院 工学研究科
液相反応合成した有機分子・カーボンナノチューブ複合材料の構造 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,938KB
竹延 大志      東北大学 金属材料研究所
配向カーボンナノチューブのX線回折実験 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,829KB
真庭 豊       東京都立大学 理学研究科
C60ナノウィスカーのX線構造解析 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出2,463KB
橘 勝         横浜市立大学大学院 総合理学研究科
高温熱処理によるHfSiONゲート絶縁膜結晶化の窒素濃度依存症 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,288KB
佐竹 秀喜      株式会社 東芝 
珪素系ナノフィラーと(高分子/ナノフィラー)ハイブリッド材料の分子凝集構造解析 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出2,059KB
高原 淳       九州大学 先導物質化学研究所
プラスチック基板上MgB2薄膜の高特性化と構造の相関 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,795KB
久保 衆伍      島根大学 総合理工学部
電界効果型素子基板上の超ドープ構造ナノクラスタ薄膜の結晶構造解析 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,580KB
谷垣 勝己      東北大学大学院 理学研究科
 
テーマN5 X線マイクロビームによる顕微分光、トモグラフィー (BL47XU)
BGAはんだ接合部における熱疲労損傷の3次元構造解析 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,373KB
佐山 利彦      富山県工業技術センター
先進ポーラス材料のミクロ構造のX線CTによる可視化 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出3,506KB
戸田 裕之      豊橋技術科学大学 生産システム工学系
硬X線光電子分光法によるランタン酸化膜/シリコン界面における組成遷移層の検出 酸素分子の運動エネルギー励起によるSi(111)表面のナノスケール選択酸化1,796KB
服部 健雄      武蔵工業大学 工学部
高エネルギー光電子分光によるV族窒素化物系希薄磁性半導体の電子構造解明 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出2,032KB
牧野 久雄      東北大学 金属材料研究所
偏晶系凝固を利用したマイクロ・ナノポーラス銅合金の3次元構造解析 酸素分子の運動エネルギー励起によるSi(111)表面のナノスケール選択酸化1,939KB
安田 秀幸      大阪大学大学院 工学研究科
テーマN6 微粒子及びナノ薄膜の電子分光 (BL27SU)
Si:KVV共鳴オージェ電子-光イオン同時計数法を用いた分子操作の研究:
       エネルギー分解したSi:ls光電子-光イオン同時計数スペクトルに現れたサイト選択解離
ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,344KB
長岡 伸一      愛媛大学 理学部
MOSデバイスの酸化物/半導体界面における電子状態の軟X線発光分光法による直接観測 軟X線発光・吸収分子による薄膜シリコン酸窒化膜界面の電子構造研究1,393KB
山下 良之      東京大学 物性研究所
シリコン酸化膜中の電子の脱出深さの酸化プロセス依存性 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,658KB
服部 健雄      武蔵工業大学 工学部
SPELEEMによるナノ構造試料観察の立ち上げ、およびナノ材料研究への応用 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,287KB
越川 孝範      大阪電気通信大学
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