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支援テーマ別 目次 |
1.テーマN1〜 |
2.テーマN4〜 |
3.テーマN7〜 |
4.テーマN10〜 |
テーマN4 新規ナノ材料の精密結晶構造評価 (BL02B2) |
配位高分子結晶のミクロ孔中でのメタノールの凝集状態および運動状態の観測 |
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北川 進 京都大学大学院 工学研究科 |
液相反応合成した有機分子・カーボンナノチューブ複合材料の構造 | ![]() |
竹延 大志 東北大学 金属材料研究所 |
配向カーボンナノチューブのX線回折実験 | ![]() |
真庭 豊 東京都立大学 理学研究科 |
C60ナノウィスカーのX線構造解析 |
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橘 勝 横浜市立大学大学院 総合理学研究科 |
高温熱処理によるHfSiONゲート絶縁膜結晶化の窒素濃度依存症 |
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佐竹 秀喜 株式会社 東芝 |
珪素系ナノフィラーと(高分子/ナノフィラー)ハイブリッド材料の分子凝集構造解析 | ![]() |
高原 淳 九州大学 先導物質化学研究所 |
プラスチック基板上MgB2薄膜の高特性化と構造の相関 | ![]() |
久保 衆伍 島根大学 総合理工学部 |
電界効果型素子基板上の超ドープ構造ナノクラスタ薄膜の結晶構造解析 |
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谷垣 勝己 東北大学大学院 理学研究科 |
テーマN5 X線マイクロビームによる顕微分光、トモグラフィー (BL47XU) |
BGAはんだ接合部における熱疲労損傷の3次元構造解析 | ![]() |
佐山 利彦 富山県工業技術センター |
先進ポーラス材料のミクロ構造のX線CTによる可視化 | ![]() |
戸田 裕之 豊橋技術科学大学 生産システム工学系 |
硬X線光電子分光法によるランタン酸化膜/シリコン界面における組成遷移層の検出 |
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服部 健雄 武蔵工業大学 工学部 |
高エネルギー光電子分光によるV族窒素化物系希薄磁性半導体の電子構造解明 |
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牧野 久雄 東北大学 金属材料研究所 |
偏晶系凝固を利用したマイクロ・ナノポーラス銅合金の3次元構造解析 |
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安田 秀幸 大阪大学大学院 工学研究科 |
テーマN6 微粒子及びナノ薄膜の電子分光 (BL27SU) |
Si:KVV共鳴オージェ電子-光イオン同時計数法を用いた分子操作の研究: エネルギー分解したSi:ls光電子-光イオン同時計数スペクトルに現れたサイト選択解離 |
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長岡 伸一 愛媛大学 理学部 |
MOSデバイスの酸化物/半導体界面における電子状態の軟X線発光分光法による直接観測 | ![]() |
山下 良之 東京大学 物性研究所 |
シリコン酸化膜中の電子の脱出深さの酸化プロセス依存性 |
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服部 健雄 武蔵工業大学 工学部 |
SPELEEMによるナノ構造試料観察の立ち上げ、およびナノ材料研究への応用 |
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越川 孝範 大阪電気通信大学 |
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