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研究分野別 目次 |
1.エレクトロニクス |
2.新規物質、表面・ナノ |
3.エネルギー材料 |
4.環境関連物質評価 |
5.基盤技術開発 |
1 エレクトロニクス・情報ストレージ |
【ULSI技術】 |
1.1 ゲート絶縁膜 |
Hf酸化物における窒素原子導入の本質的な効果 |
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山下 良之 東京大学 物性研究所 |
Si(110)面の酸化初期過程の放射光光電子分光解析 | ![]() |
末光 眞希 東北大学 学際科学国際高等研究センター |
超熱酸素原子線と窒素原子打ち込み併用による酸窒化構造の形成と界面構造解析 |
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田川 雅人 神戸大学 工学部 |
1.2 配線、ナノワイヤ、ナノドット等 |
分子線エピタキシ・薄膜X線回折複合装置による Ge/Si(001)ナノドット形成と組成・歪のその場測定 |
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花田 貴 東北大学 金属材料研究所 |
1.3 酸化物エレクトロニクス材料 |
室温青色発光を示すSrTiO3における格子ゆがみ検出 | ![]() |
島川 祐一 京都大学 化学研究所 |
【化合物半導体技術】 |
1.4 半導体レーザ技術 |
ln蛍光X線を用いたGalnN量子井戸の結晶評価U | ![]() |
宮嶋 孝夫 ソニー株式会社 |
【磁気記録技術】 |
1.5 記録媒体、磁性膜 |
ホイスラー型“ハーフメタル”強磁性体の硬X線光電子分光 | ![]() |
木村 昭夫 広島大学大学院 理学研究科 |
核共鳴散乱法を用いたCr系ナノ薄膜における局所電子スピン分極の検出 | ![]() |
壬生 攻 名古屋工業大学大学院 工学研究科 |
1.6 磁性ナノドット、磁性ナノワイヤ、磁性ナノ粒子等 |
化学組成が厳密に規定されたチオール保護金ナノクラスターのX線磁気円二色性観測 | ![]() |
横山 利彦 自然科学研究機横 分子科学研究所 |
亜鉛フェライト・磁性ナノ粒子のスピン選別XAFS | ![]() |
林 久史 東北大学 多元物質科学研究所 |
Au(111)微傾斜表面上の3d遷位金属ナノ構造における磁気構造 | ![]() |
川合 真紀 理化学研究所 |
鉄系超微粒子のX線小角散乱−X線異常散乱法の適用− | ![]() |
鈴木 茂 東北大学 多元物質科学研究所 |
1.7 スピンエレクトロニクスなど新規磁性材料 |
ヘマタイト−イルメナイト固溶体の磁気円二色性スペクトル |
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藤井 達生 岡山大学大学院 自然科学研究科 |
硬X線光電子分光法による 強相関電子系強磁性酸化物ヘテロ構造の界面電状態評価 |
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田中 秀和 大阪大学 産業科学研究所 |
【光記録技術】 |
1.8 相変化記録材料 |
マイクロ回折法による相変化記録材料Ge2Sb2Te5薄膜の局所構造評価 |
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松永 利之 株式会社 松下テクノリサーチ |
硬X線光電子分光法による相変化光ディスク記録膜の解析 |
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吉木 昌彦 株式会社 東芝 |
蛍光X線ホログラフィーによるDVD材料薄膜単結晶の三次元原子イメージ |
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細川 伸也 広島工業大学 工学部 |
XAFS Study of structual changes under hydrostatic pressure of Sb-Te phase change alloys |
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Fons, Paul 産業技術総合研究所 |
Measurement of bulk ESCA and bulk valence
band structure in Sb-Te and Ge-Te optical memory alloys |
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Fons, Paul 産業技術総合研究所 |
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