テーマN1 磁気記憶材料等の元素別磁化測定 (BL39XU)
化学組成が厳密に規定されたチオール保護金ナノクラスターのX線磁気円二色性観測 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,176KB
横山 利彦       自然科学研究機横 分子科学研究所
亜鉛フェライト・磁性ナノ粒子のスピン選別XAFS ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,808KB
林 久史         東北大学 多元物質科学研究所
サブナノ秒時間分解XMCDの開発と磁性体の磁化ダイナミクスの研究 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,547KB
小野 寛太       高エネルギー加速器研究機構 物質構造科学研究所
テーマN2 半導体等ナノ薄膜の表面・界面構造解析 (BL13XU)
Au基板上に調製したセルロース自己組織化薄膜のX線結晶構造解析 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,603KB
北岡 卓也       九州大学大学院 農学研究院
巨大圧電性発現機構のin-situ測定による解明 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,622KB
舟窪 浩        東京工業大学大学院 総合理工学研究料
分子線エピタキシ・薄膜X線回折複合装置による
        Ge/Si(001)ナノドット形成と組成・歪のその場測定
ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出470KB
花田 貴        東北大学 金属材料研究所
室温青色発光を示すSrTiO3における格子ゆがみ検出 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出623KB
島川 祐一       京都大学 化学研究所
マイクロ回折法による相変化記録材料Ge2Sb2Te5薄膜の局所構造評価 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出684KB
松永 利之       株式会社 松下テクノリサーチ
テーマN3 新機能ナノ材料の光電子分光、磁気円二色性測定(BL25SU)
金属内包フラーレンを取り込んだ
        単層カーボンナノチューブ(ナノピーポッド)の磁化解析
ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,029KB
篠原 久典      名古屋大学大学院 理学研究科
ヘマタイト−イルメナイト固溶体の磁気円二色性スペクトル ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,876KB
藤井 達生      岡山大学大学院 自然科学研究科
Au(111)微傾斜表面上の3d遷移金属ナノ構造における磁気構造 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,900KB
川合 真紀      理化学研究所
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