テーマN4 新規ナノ材料の精密結晶構造評価 (BL02B2)
希土類金属−フラーレン化合物の精密構造解析 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,252KB
谷垣 勝己       東北大学大学院 理学研究科
粉末放射光X線回折による
        一次元トリアゾール錯体とアルコール分子の相互作用並びにその系統的解析
ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,271KB
黒岩 敬太       九州大学大学院 工学研究院
Pd/Ptナノ粒子の水素吸蔵に伴う構造変化 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,348KB
山内 美穂       九州大学大学院 理学研究院
種々の置換基を有する
        Polyhedral Origomeric Silsesquioxane(POSS)ナノ材料の相転移挙動
ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,330KB
高原 淳        九州大学 先導物質化学研究所
超プロトン伝導性配位高分子錯体における水素ドーピングによる結晶構造変化の研究 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,671KB
北川 宏        九州大学大学院 理学研究院
修飾基板上に形成したカーボンナノ物質/触媒金属微粒子の結晶配向性の検出 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,186KB
酒井 朗        名古屋大学大学院 工学研究料
化学組成が厳密に規定された
        チオール保護金ナノクラスター粉末X線回折による構造解析
ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,915KB
佃 達哉        自然科学研究機構 分子科学研究所
パラジウムクラスターにおける熱処理誘起構造転移に関する研究 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,590KB
三谷 忠興       北陸先端科学技術大学院大学 材料科学研究科
Imaging of adsorbed nitrogen gas molecules into mesoporous silica ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,531KB
寺崎 治        ストックホルム大学 アルレニウス研究所
ナノ粒子誘導巨大誘電率を持つ
          チタン酸バリウムナノ粒子の電子密度分布のサイズ依存性の解明
ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,758KB
和田 智志       東京工業大学大学院 理工学研究所
 
テーマN5 X線マイクロビームによる顕微分光、トモグラフィー (BL47XU)
硬X線光電子分光法による相変化先ディスク記録膜の解析 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,373KB
吉木 昌彦       株式会社 東芝
ホイスラー型“ハーフメタル”強磁性体の硬X線光電子分光 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出3,506KB
木村 昭夫       広島大学大学院 理学研究料
カーボンナノチューブに担持した白金クラスターの電子構造のサイズ依存性 酸素分子の運動エネルギー励起によるSi(111)表面のナノスケール選択酸化1,796KB
三谷 忠興       北陸先端科学技術大学院大学 材料科学研究科
高分解能硬X線光電子分光法を用いた
        ハイブリッド型燃料電池自動車用電池の電極表面状態の解析
ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出2,032KB
鹿野 昌弘       産業技術総合研究所
硬X線光電子分光法による
         強相関電子系強磁性酸化物へテロ構造の界面電状態評価
ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出2,032KB
田中 秀和       大阪大学 産業科学研究所
テーマN6 微粒子及びナノ薄膜の電子分光 (BL27SU,BL17SU)
焦点位置変調球面収差除去法による光電子顕微鏡の空間分解能向上 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,344KB
越川 孝範       大阪電気通信大学 エレクトロニクス基礎研究所
Hf酸化物における窒素原子導入の本質的な効果 軟X線発光・吸収分子による薄膜シリコン酸窒化膜界面の電子構造研究1,393KB
山下 良之       東京大学 物性研究所
ナノチューブ成長用触媒金属のSi酸化膜上における反応過程のSPELEEMによる研究 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,658KB
前田 文彦       NTT物性科学基礎研究所
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