支援テーマ別　目次
　 研究分野別　目次

1.テーマN1～
　　テーマN3

2.テーマN4～
　　テーマN6

3.テーマN7～
　　テーマN9

4.テーマN10～
　　テーマN12
テーマN7 蛍光X線分析法による微量元素マッピング　（BL37XU）
蛍光Ｘ線ホログラフィーによるＤＶＤ材料薄膜単結晶の三次元原子イメージ ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出2,283KB
細川　伸也　　　　　　　広島工業大学　工学部
In蛍光Ｘ線を用いたGaInN量子井戸の結晶評価Ⅱ ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,181KB
宮嶋　孝夫　　　　　　　ソニー株式会社
太陽電池用多結晶シリコン基板内の
　　　　　　　　微少結晶粒への鉄の選択的凝集とその化学状態に関する研究		 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,931KB
大下　祥雄　　　　　　　豊田工業大学大学院　工学研究料
X線マイクロビームを用いたPd多層膜表面微量元素分布と金属組織の相関把握 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出3,453KB
岩村　康弘　　　　　　　三菱重工業株式会社
μ-XANESを用いた環境浄化植物の細胞レベルにおけるCdの化学状態分析 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出2,265KB
中井　泉　　　　　　　　東京理科大学　理学部
 
テーマN8 核共鳴散乱法による局所構造と電子状態の研究　（BL11XU）
核共鳴散乱法を用いたCr系ナノ薄膜における局所電子スピン分極の検出 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,224KB
壬生　攻　　　　　　　　名古屋工業大学大学院　工学研究科
テーマN9 電気化学における固/液界面構造解析　（BL14B1）
自己組織化単分子層を用いて
　　　　　　　　形成した金属－分子－金属接合の表面Ｘ線散乱法による精密構造解析		 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,450KB
高草木　達　　　　　　北海造大学大学院　理学研究科
表面Ｘ線回折法を用いた
　　　　　　　　単結晶リチウム電池エピタキシャル薄膜正極の界面反応のその場観察		 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出1,801KB
菅野　了次　　　　　　東京工業大学大学院　総合理工学研究科
XAFS Study of structual changes
　　　　　　　　under hydrostatic pressure of Sb-Te phase change alloys		 ゲート絶縁膜/シリコン界面遷移層の検出312KB
Fons, Paul　　　　　　産業技術総合研究所
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