大型放射光施設 SPring-8

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SPring-8研修会

副題/演題 初心者を対象としたXAFS測定研修会
開催期間 2013年02月05日09時00分から06日まで
開催場所 大型放射光施設 SPring-8 講義:中央管理棟1階上坪講堂 実習(測定) :蓄積リング棟実験ホールBL14B2
形式 普及・啓蒙(研修会)
概要

 SPring-8利用経験の無い方を主な対象として、産業利用IIビームラインBL14B2においてXAFS測定研修会を行います。測定は透過法(自動XAFS測定システムを使用します)、蛍光法(19素子ゲルマニウム半導体検出器を使用)および転換電子収量法を実施します。本研修会は、BL14B2における実習を通して光学系・実験装置の特徴について学び、適切な実験計画に基づいて測定する技術の習得を目的とします。
 実習では、ご計画中のXAFS分析のテスト測定として参加者の持参された試料の測定(透過法、蛍光法、転換電子収量法)を行います

 なお、同時期に産業利用IビームラインBL19B2において粉末X線回折測定研修会も実施します。両方の研修会に参加することも可能ですので、ご検討下さい。
※粉末回折測定研修会の詳細については、こちらをご覧下さい。

プログラム

2月5日(火)

時間 内容 詳細
9:00-10:15 各自ユーザー手続き    (人によって所要時間が違います。特に初めてご来所の方は早めに(9時迄に)お越し頂く必要があります。)
10:15-11:45    講義 XAFS分析の概要とXAFS測定方法について
11:45-13:00 【昼食】
13:00 講義&デモ測定 BL14B2の装置説明・デモ測定
  実習 参加者持ち込み試料の測定

対象者
主にSPring-8利用経験の無く、産業利用をご計画中のSPring-8のXAFS測定の初心者の方(2013A期以降に申請中または申請を計画している方)

定員:
約5グループ (1グループ2名以内)
持込み試料が無い見学のみでの参加は出来ません。持込み試料について組成・形態・数量等について正確にご記入下さい。申込者多数の場合の判断基準となります。透過法または多素子半導体検出器を使用した蛍光法および転換電子収量法によるXAFS測定に適さないなど実習に適さない試料の場合は測定をお断りすることがあります。これまでに開催した同様の研修会に参加されたことが無い方を優先します。申込者多数の場合は、当方での調整に一任願います。調整後、全ての申込者に参加の可否についてご連絡致します。申込順ではありませんのでご注意下さい。(お早めにお申し込み頂いた場合でもご参加頂けない場合があります。)同じ所属の方が参加を希望される場合、先着2名までとさせて頂きます。定員になり次第募集を締め切ります。

申込方法:
定員に達しましたので締め切りました。

申込締切:
定員に達しましたので締め切りました。

その他:
注意事項

• 持ち込み試料の制限は以下の通り
   - 持ち込み試料は1グループ5サンプル以内(ただし、1グループの持ち時間は、蛍光法、転換電子収量法の場合、装置調整を含め2~3時間を予定しています。透過法のみの場合は、1時間程度を予定しています。)
   - 安全、法規上問題のないもの
   - 汚染、破損、紛失しても構わないもの
   ※測定は、室温・大気中で行います。
   ※申込者多数の場合、放射光施設関係者の方などは、ご参加頂けない場合があります。
   ※持ち込み試料について、申込書に正確にご記載下さい。申込者多数の場合の判断基準にします。
   ※申込者多数の場合は、自動XAFS測定システムの利用が可能な持ち込み試料(粉末試料など)の方を優先します。
   ※実習に適さない試料の場合は測定をお断りすることがあります。
   ※実習日以前に、測定試料等について事前に打合せをさせて頂くことがあります。
   ※データ持ち帰り用に、USBメモリー(空き容量100MB以上)を持参して下さい。 本研修会の参加にはSPring-8 User登録、放射線従事者登録などの諸手続きが完了されていることが必要です。また、持ち込み希望サンプルについては、安全管理室審査の手続きが必要となります。
   ※手続きに関する案内は、参加受付後ご連絡差し上げます。

• 研修会参加者は事前に下記文献を参照のこと。
   - XAFS測定:
     宇田川康夫編、『X線吸収微細構造   XAFSの測定と解析』学会出版センター
     (ただし、残念ながら絶版となっております)
     大田俊明編、『X線吸収分光法-XAFSとその応用-』アイピーシー
   - BL14B2 光学系:
     T. Honma, H. Oji, S. Hirayama, Y. Taniguchi, H. Ofuchi and M. Takagaki, AIP Conf. Proc. 1234 (2010) 13-16.

• 学生の方は「学生保険」等に加入していることが必要です。
• 参加者への連絡などは全てe-mailで行います。参加の手続にはオンライン登録や書類のダウンロードが必要です。インターネットに接続できる環境をご用意ください。
• 研修会への参加は無料です。
• 研修会参加者への旅費支給等はありません。
• 申込者多数の場合の実習への参加の可否の調整は、当方での調整に一任願います。
• 申込者多数の場合は、締切日以前に募集を終了することがあります。
• 前日および当日に滞在が必要な方は、SPring-8交流施設をご利用いただけます(1室シングル2000円/日、ツイン3000円/日)。

問合せ先:
ご質問、ご要望はメールにてお願いします。

実習担当:(内容等について)
   (公財)高輝度光科学研究センター  産業利用推進室
    本間 e-mail : honma@spring8.or.jp
    高垣 e-mail : takagaki@spring8.or.jp

事務担当:(手続き等について)
   (公財)高輝度光科学研究センター  研究調整部 研究業務課
    當眞、守屋、益田
    TEL:0791-58-0924, FAX:0791-58-0830
    e-mail : workshops@spring8.or.jp

URL http://support.spring8.or.jp/event/XAFS_130205.html
問い合わせ先 (公財)高輝度光科学研究センター 研究調整部 研究業務課 當眞、守屋、益田
0791-58-0924
0791-58-0830
workshops@spring8.or.jp
最終変更日 2012-12-13 09:58