SPring-8研修会 二次元検出器を用いた薄膜X線回折測定
| 主題/内容 | 二次元検出器を用いた薄膜X線回折測定研修会(オンライン開催) | ||||||||||||||||||
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| 開催期間 | 2021年02月18日 (木) 10時00分から18時00分まで | ||||||||||||||||||
| 開催場所 | オンライン開催(講義・測定場所:蓄積リング棟 実験ホール BL46XU 第一ハッチ HUBER社多軸X線回折計) | ||||||||||||||||||
| 主催 | (公財)高輝度光科学研究センター(JASRI) | ||||||||||||||||||
| 協賛 | 光ビームプラットフォーム | ||||||||||||||||||
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| 概要 |
SPring-8産業利用IIIビームラインBL46XUにおいて、産業分野あるいは産学連携分野での利用を検討中で、利用経験の無い方を対象とした薄膜X線回折測定の研修会を行います。今回の研修会ではHUBER社多軸X線回折計において利用が増えてきている二次元検出器PILATUS300Kを用いた薄膜X線回折測定を対象とします。 日時:2021年2月18日(木)10:00 ~2月18日(木)18:00(測定実習完了次第終了) 形式:オンライン開催 |
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| プログラム |
対象者: なお、過去にBL46XUにおいてX線回折実験を経験された方(研修会を含む)は、対象外とさせていただきますのでご了承ください。 定員:3グループ、1グループ4名以内 申込み方法: 申込み締め切り: 個別実習で測定対象となる試料: その他の注意事項: 問合せ先 |
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spring8.or.jp