SPring-8研修会「初中級者を対象としたXAFS測定研修会」2024年度
| 主題/内容 | 初中級者を対象としたXAFS測定研修会 | |||||||||||||||||||
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| 開催期間 | 2024年12月10日 (火) 10時00分からまで | |||||||||||||||||||
| 開催場所 | 講義:中央管理棟1階ミーティングルーム、測定:蓄積リング棟実験ホールBL14B2 | |||||||||||||||||||
| 主催 | (公財)高輝度光科学研究センター(JASRI) | |||||||||||||||||||
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| 概要 |
主にXAFS測定が初中級者の産業界の方を対象として、XAFS ⅡビームラインBL14B2においてXAFS測定研修会を行います。測定は透過法、蛍光法(19素子ゲルマニウム半導体検出器を使用)および転換電子収量法を実施します。 会場:大型放射光施設 SPring-8 |
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| プログラム |
※下記プログラムは予定しているもので、参加者の経験等により、内容は変更されます。
対象者:主にXAFS測定が初中級者の産業界の方。2025A第2期以降に申請を計画している方。 定員:4名程度(1グループ2名以内、最大2グループ) 申込み方法: 申込み締め切り: ユーザー持込試料: その他の注意事項: 問合せ先:ご質問、ご要望はメールにてお願いします。 |
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