大型放射光施設 SPring-8

問い合わせ番号

SOL-0000001209

ビームライン

BL01B1（XAFS I）

学術利用キーワード

A. 試料	無機材料
B. 試料詳細	金属・合金, 非晶質、ガラス
C. 手法	吸収、及びその二次過程
D. 手法の詳細	XAFS, EXAFS, XANES
E. 付加的測定条件	偏光（直線）, 室温
F. エネルギー領域	Ｘ線（>40 keV）
G. 目的・欲しい情報	化学状態, 結合状態, 分子構造, 局所構造

産業利用キーワード

階層1	ディスプレイ, 電池, 化学製品, 工業材料
階層2	触媒
階層3	TFT
階層4	局所構造, 電子状態, 化学状態
階層5	XAFS, NEXAFS

分類

A80.30 無機材料, M40.10 XAFS

利用事例本文

In this solution, La K-edge XAFS method was applied to study local structure of metal endohedral fullerene, La₂@C₈₀. EXAFS and XANES method provide local structure information (distance, coordination number, species of neighbor atoms) and local electronic structure information (valence, species of neighbor atoms) of selected elements, respectively. XAFS analysis of La₂@C₈₀ revealed that La(III) dimmer exists in C₈₀ cage as shown in the figure.

Fig. Model structure of La₂@C₈₀

[ Y. Kubozono, Y. Takabayashi, S. Kashino, M. Kondo, T. Wakahara, T. Akasaka, K. Kobayashi, S. Nagase, S. Emura and K. Yamamoto, Chemical Physics Letters 335, 163-169 (2001), Fig. 3,
©2001 Elsevier B. V. ]

画像ファイルの出典

原著論文/解説記事

誌名

Y. Kubozono et al., Chem. Phys. Let, 335, (2001) 163

図番号

3

測定手法

XAFS spectra of dense samples are taken in a transmission mode. This method is performed by measuring x-ray absorption as a function of x-ray energy around an absorption edge of a selected element. For elements from Sn to Eu in the periodic table, K-edge XAFS has advantages, such as high-spatial resolution and small contribution of multi-electron excitations, compared with L3-edge XAFS. Acquisition time per XAFS spectrum using QXAFS mode is 15-30 min in this solution.

画像ファイルの出典

私信等、その他

詳細

講習会プレゼン資料

測定準備に必要なおおよその時間

2 時間

測定装置

装置名	目的	性能
XAFS Measurement System	Measurement of XAFS spectra	3.8-113 keV
Ionization Chamber	Measurement of transmission mode XAFS	concentration > 1000 ppm

参考文献

文献名
Y. Kubozono et al., Chem. Phys. Let, 335, (2001) 163.

関連する手法

アンケート

SPring-8だからできた測定。他の施設では不可能もしくは難しい
本ビームラインの主力装置を使っている

測定の難易度

初心者でもOK

データ解析の難易度

中程度

図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数

1シフト以下