微弱超格子反射の観測:電荷ストライプ秩序の存在解明
問い合わせ番号
SOL-0000001261
ビームライン
BL02B1(単結晶構造解析)
学術利用キーワード
A. 試料 | 無機材料 |
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B. 試料詳細 | 超伝導体, 結晶性固体, 結晶 |
C. 手法 | X線回折, X線弾性散乱 |
D. 手法の詳細 | 広角散乱 |
E. 付加的測定条件 | 偏光(直線), 低温(〜液体ヘリウム) |
F. エネルギー領域 | X線(4~40 keV) |
G. 目的・欲しい情報 | 構造解析, 結晶構造, 構造変化, 相転移 |
産業利用キーワード
階層1 | 電子部品, 電池, 工業材料 |
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階層2 | 二次電池、太陽電池 |
階層3 | 電極 |
階層4 | 結晶構造 |
階層5 | 回折 |
分類
A80.30 無機材料, M10.10 単結晶回折
利用事例本文
単結晶回折実験は物質中の原子の周期的配列を調べることのできる強力な手法です。この手法を用いることで、 物質の結晶構造を測定することができます。放射光を利用することにより、実験室の装置では検出できない振幅の小さな変調構造を捉えることが可能になります。図に示すのは、La1.875Ba0.125SrxCuO4について測定した(1.76, K, 0.5)超格子反射の回折曲線です。この結果から、超伝導相の出現を抑制する電荷ストライプ秩序の周期・伝播方向・相関長といった構造情報が明らかにされ、結晶の対称性との間に強い相関関係があることがわかりました。
[ H. Kimura, H. Goka, M. Fujita, Y. Noda, L. Yamada and N. Ikeda, Physical Review B 67, 140503(R) (2003), Fig. 2,
©2003 American Physical Society ]
画像ファイルの出典
原著論文/解説記事
誌名
Phys. Rev. B 67, 140503(R) (2003)
図番号
2
測定手法
単結晶回折実験は、物質の構造を原子的尺度で調べられる強力な測定方法です。この方法は、結晶であればどんな物質にも適用でき、原子レベルの構造を解明することができます。
画像ファイルの出典
図なし
測定準備に必要なおおよその時間
12 時間
測定装置
装置名 | 目的 | 性能 |
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4軸回折計 | 回折強度測定 | 冷凍機搭載 |
参考文献
文献名 |
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H. Kimura et. al., Phys. Rev. B 67, 140503 (2003). |
関連する手法
中性子線回折
アンケート
本ビームラインの主力装置を使っている
測定の難易度
熟練が必要
データ解析の難易度
中程度
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
1シフト以下