SPring-8, the large synchrotron radiation facility

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多孔性金属錯体に吸着したアセチレンガスの規則的一次元配列構造

  • Only SPring-8

Inquiry number

SOL-0000001266

Beamline

BL02B2 (Powder Diffraction)

Scientific keywords

A. Sample category organic material
B. Sample category (detail) solid-state crystal, organic material, crystal
C. Technique X-ray diffraction
D. Technique (detail) powder diffraction
E. Particular condition low-T (~ liquid N2), Gas Adsorption
F. Photon energy X-ray (4-40 keV)
G. Target information structure analysis, crystal structure, function and structure, charge density

Industrial keywords

level 1---Application area cell (battery), environment, Chemical product
level 2---Target fuel cell, catalysis
level 3---Target (detail) electric rod
level 4---Obtainable information crystal structure, adsorption
level 5---Technique diffraction

Classification

A80.32 organic material, M10.20 powder diffraction

Body text

粉末回折法は 結晶構造を調べることのできる強力な手法です。この手法を用いることで、結晶性物質の 原子位置、格子定数などを決定することができます。また、放射光を利用することによって、構造パラメータだけではなく結合状態や価数といった物性の発現と密接に関連した電子密度レベルでの構造を明らかにすることも可能です。図に示すのは、 アセチレンガス吸着下で金属錯体について測定した回折データを解析して得られた電子密度分布です。この結果から、金属錯体の規則正しく並んだナノメートルサイズの細孔の一つ一つに、アセチレン分子(緑色)が一列に並んでいることががわかりました。

図 多孔性金属錯体にアセチレン分子を吸着させた状態の電子密度分布

[ R. Matsuda, R. Kitaura, S. Kitagawa, Y. Kubota, R. V. Belosludov, T. C. Kobayashi, H. Sakamoto, T. Chiba, M. Takata, Y. Kawazoe and Y. Mita, Nature 436, 238-241 (2005), Fig. 4,
©2005 Nature Publishing Group ]

 

Source of the figure

Original paper/Journal article

Journal title

Nature, 436 (2005) 238.

Figure No.

4

Technique

放射光を用いた粉末回折法は、結晶構造を調べられる強力な測定方法です。この方法は、物質にガスを吸着した状態でも適用でき、ガス吸着下での結晶構造に関する情報を得ることができます。

図 ガス吸着下粉末回折装置

Source of the figure

Original paper/Journal article

Journal title

SPring-8 利用者情報, 8 (2003) 406.

Figure No.

2

Required time for experimental setup

1 shift(s)

Instruments

Instrument Purpose Performance
大型デバイシェラーカメラ 粉末結晶構造解析 カメラ半径:286.48mm, 温度:15-1000K

References

Document name
R. Matsuda et al., Nature, 436 (2005) 238.

Related experimental techniques

単結晶構造解析

Questionnaire

The measurement was possible only in SPring-8. Impossible or very difficult in other facilities.
This solution is an application of a main instrument of the beamline.
With user's own instruments.

Ease of measurement

With a great skill

Ease of analysis

Middle

How many shifts were needed for taking whole data in the figure?

Four-nine shifts

Last modified