有機導体(EDO-TTF)2PF6における電荷整列パターン
Inquiry number
SOL-0000001272
Beamline
BL02B2 (Powder Diffraction)
Scientific keywords
| A. Sample category | organic material |
|---|---|
| B. Sample category (detail) | metal, alloy, insulator, ceramics, solid-state crystal, organic material, crystal |
| C. Technique | X-ray diffraction |
| D. Technique (detail) | powder diffraction |
| E. Particular condition | low-T (~ liquid N2) |
| F. Photon energy | X-ray (4-40 keV) |
| G. Target information | chemical bonding, molecular structure, structure analysis, crystal structure, structural change, function and structure, charge density, phase transition |
Industrial keywords
| level 1---Application area | storage device |
|---|---|
| level 2---Target | |
| level 3---Target (detail) | |
| level 4---Obtainable information | crystal structure, valence |
| level 5---Technique | diffraction |
Classification
A80.32 organic material, M10.20 powder diffraction
Body text
粉末回折法は 結晶構造を調べることのできる強力な手法です。この手法を用いることで、結晶性物質の 原子位置、格子定数などを測定することができます。また、放射光を利用することにより、構造パラメータだけではなく結合状態や価数といった物性の発現と密接に関連した電子密度レベルでの構造を明らかにすることも可能です。図に示すのは、超高速光応答性を示す有機導体(EDO-TTF)2PF6について測定した回折データを解析して得られた電子密度分布です。この結果から、絶縁体相での電荷整列パターンがわかりました。
図 (EDO-TTF)2PF6の電荷整列相の電子密度分布
[ S. Aoyagi, K. Kato, A. Ota, H. Yamoshi, G. Saito, H. Suematsu, M. Sakata and M. Takata, Angewandte Chemie International Edition 43, 3670-3673 (2004), Fig. 2(b),2(d),
©2004 Wiley VCH ]
Source of the figure
Beamline Report
Page
50
Technique
放射光を用いた粉末回折法は、結晶構造を調べられる強力な測定方法です。この方法は、相転移により電子の授受が起こる系にも適用でき、電荷整列パターンに関する直接的な情報を得ることができます。
図 大型デバイシェラーカメラの模式図（左）と写真（右）
Source of the figure
Presentation material for Beamline Report
Required time for experimental setup
1 hour(s)
Instruments
| Instrument | Purpose | Performance |
|---|---|---|
| 大型デバイシェラーカメラ | 粉末結晶構造解析 | カメラ半径：286.48mm, 温度：15-1000K |
References
| Document name |
|---|
| S. Aoyagi et al., Angewandte Chemie International Edition, 43 (2004) 3670. |
Related experimental techniques
単結晶構造解析
Questionnaire
The measurement was possible only in SPring-8. Impossible or very difficult in other facilities.
This solution is an application of a main instrument of the beamline.
Similar experiments account for more than 30% of the beamline's subject.
Ease of measurement
Middle
Ease of analysis
Middle
How many shifts were needed for taking whole data in the figure?
Two-three shifts