大型放射光施設 SPring-8

問い合わせ番号

INS-0000000421

高圧実験用イメージングプレート型回折計

  ダイヤモンドアンビルセル(DAC)を用いた高圧下のX線回折実験を行うために、イメージングプレート型回折計がインストールされている（図1）。回折計は4象限スリット、シャッター、イオンチャンバー、コリメータ、イメージングプレート型検出器（面積 300 mm × 300 mm, リガク R-AXIS IV++）で構成されている。カメラ長（試料位置と検出器の距離）は270 mm から 1470 mmに調整可能である。

• Table 1. ダイヤモンドアンビルセルのスペック

  温度	室温
  圧力	〜200 GPa
  ビームサイズ	> 0.04 mm × 0.04 mm

  
  

  Fig.1. イメージングプレート型回折計

  
  Fig.2. CeSbのX線回折パターン ((1) 4.2 GPa (2)24 GPa)
  (1) a = 6.26 Å, Fm3m, NaCl-type structure
  (2) a=3.73 Å, c=3.11 Å, P4/mmm, Tetragonal-type structure
  

  Fig.3. SnI₄の構造因子S(Q)

  61.7 keV の高エネルギーX線を用いればDACで制限された回折角(~ 30˚)で散乱ベクトルrQ (= 4πsinθ/λ)=∼ 16 Å^-1まで回折パターンを測定することが可能。

参考文献

1. Y. Ohishi, M. Isshiki, N. Ishimatsu and N. Hamaya: SPring-8 user report #1999B0148-ND-np.
2. A. Ohmura, N. Hamaya, K. Sato, C. Ogawa, M. Isshiki and Y. Ohishi: J. Phys.: Condens. Matter, 14 (2002) 10553.