X-ray fluorescence analysis of trace rare-earth and heavy elements
問い合わせ番号
SOL-0000001199
ビームライン
BL08W（高エネルギー非弾性散乱）
学術利用キーワード
| A. 試料 | 無機材料, 有機材料 |
|---|---|
| B. 試料詳細 | 環境関連物質 |
| C. 手法 | 蛍光Ｘ線 |
| D. 手法の詳細 | 微量元素分析 |
| E. 付加的測定条件 | 室温 |
| F. エネルギー領域 | Ｘ線（>40 keV） |
| G. 目的・欲しい情報 | 元素分析（微量） |
産業利用キーワード
| 階層1 | 環境 |
|---|---|
| 階層2 | 環境物質 |
| 階層3 | 焼却灰 |
| 階層4 | 元素分布 |
| 階層5 |
分類
A60.20 環境物質, A80.30 無機材料, A80.32 有機材料, A80.40 環境材料
利用事例本文
X-ray fluorescence (XRF) analyses with 116 keV X-rays as an excitation source is suitable for nondestructive multielemental analyses of heavy elements such as rare-earth elements. It also should be useful for geological, geochemical and archaeological samples as well as industrial materials.
The figure shows the XRF spectrum of geological sample (JG-1, granite rock standard reference sample excited by 116 keV X-rays and a measurement time of 500 sec. The use of high-energy X-rays makes it possible to obtain energy spectra consisting of well separated fluorescence lines from rare-earth elements.
[ I. Nakai, Y. Terada, M. Itou and Y. Sakurai, Journal of Synchrotron Radiation 8, 1078-1081 (2001), Fig. 2,
©2001 International Union of Crystallography ]
画像ファイルの出典
原著論文/解説記事
誌名
Journal of Synchrotron Radiation, 8 (2001) 1078-1081
図番号
2
測定手法
The high-energy X-rays emitted from the wiggler and monochromatized by Si400 bent monochromator is injected to the sample. The fluorescence X-rays are detected by a Ge solid state detector.
画像ファイルの出典
図なし
測定準備に必要なおおよその時間
4 時間
測定装置
| 装置名 | 目的 | 性能 |
|---|---|---|
| High energy X-ray fluorescent spectrometer | XRF measurement |
参考文献
| 文献名 |
|---|
| I. Nakai, et. al. , Journal of Synchrotron Radiation, 8 (2001) 1078-1081 |
関連する手法
アンケート
ユーザー持ち込み装置を使った
測定の難易度
初心者でもOK
データ解析の難易度
初心者でもOK
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
1シフト以下