ストロボ検出による核共鳴反射率測定法
問い合わせ番号
SOL-0000001308
ビームライン
BL09XU（HAXPES I）
学術利用キーワード
| A. 試料 | 無機材料, 計測法、装置に関する研究 |
|---|---|
| B. 試料詳細 | 磁性体, 膜 |
| C. 手法 | Ｘ線弾性散乱, 核励起、メスバウアー過程 |
| D. 手法の詳細 | 反射、屈折, メスバウアー分光法 |
| E. 付加的測定条件 | 偏光（直線）, 界面, 時分割（ナノ秒）, 室温 |
| F. エネルギー領域 | Ｘ線（4～40 keV) |
| G. 目的・欲しい情報 | 化学状態, スピン・磁性構造 |
産業利用キーワード
| 階層1 | 記憶装置 |
|---|---|
| 階層2 | HD、MO |
| 階層3 | 容量膜, 磁性層 |
| 階層4 | 膜厚, 表面・界面, 界面磁気構造 |
| 階層5 | 反射率 |
分類
A30.20 表面界面物性, A80.14 磁性材料, A80.40 環境材料
利用事例本文
ストロボ検出による核共鳴反射率測定法（SDSMR)は、薄膜や多層膜の超微細相互作用の厚さ方向分布を調べられる精密な測定方法です。この方法は、メスバウアー元素を含む薄膜、多層膜に適用でき、スピンの向きや大きさもしくは化学状態などの厚さ方向分布に関する情報を得ることができます。図は[57Fe(2.6 nm)/Cr(1.3 nm)]20多層膜についてのSDSMRスペクトルを示しています。
図 電子散乱(a)、核共鳴散乱(b)の反射率曲線と(c)-(e)におけるSDSMRスペクトル
画像ファイルの出典
所内報
誌名
Research Frontiers 2003
ページ
58
測定手法
画像ファイルの出典
図なし
測定準備に必要なおおよその時間
8 時間
測定装置
参考文献
| 文献名 |
|---|
| Research Frontiers 2003, p58 |
関連する手法
アンケート
SPring-8だからできた測定。他の施設では不可能もしくは難しい
本ビームラインの主力装置を使っている
測定の難易度
中程度
データ解析の難易度
熟練が必要
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
2～3シフト