Ｘ線パラメトリック変換の偏光依存性の観測
Inquiry number
SOL-0000001314
Beamline
BL09XU (HAXPES I)
Scientific keywords
| A. Sample category | inorganic material, research on method, instrumentation |
|---|---|
| B. Sample category (detail) | solid-state crystal |
| C. Technique | X-ray diffraction |
| D. Technique (detail) | reflection, refraction |
| E. Particular condition | polarization (linear), room temperature, time-resolved (ns) |
| F. Photon energy | X-ray (4-40 keV) |
| G. Target information |
Industrial keywords
| level 1---Application area | others |
|---|---|
| level 2---Target | |
| level 3---Target (detail) | |
| level 4---Obtainable information | electronic state |
| level 5---Technique | reflectometry, diffraction |
Classification
A80.90 others
Body text
本事例ではダイヤモンド単結晶についてＸ線パラメトリック変換を検出し、その特異な偏光依存性をを解析しました。Ｘ線領域での非線形現象の偏光依存性はトムソン散乱とは異なり、また可視光領域からの非線形現象の延長とも異なります。吸収が少なく、完全性の高いダイヤモンド結晶を用い、また時間分解能に優れたAPD検出器を用いることで、水平偏光をした放射光でのＸ線パラメトリック変換の検出を実現しました。このデータから、Ｘ線領域での非線形現象の偏光依存性の理論の正当性が明らかになりました。図の赤丸はパラメトリック変換対から成るコインシデンスシグナルを表し、位相整合条件が満たされる角度にピークをつくっています。
図 Ｘ線パラメトリック変換の収量。赤丸がパラメトリック変換対から成るコインシデンスシグナル。
青丸はブラッグ反射強度。
Source of the figure
Bulletin from SPring-8
Bulletin title
Reaearch Frontiers 1997/1998
Page
27
Technique
Source of the figure
No figure
Required time for experimental setup
hour(s)
Instruments
References
Related experimental techniques
Questionnaire
The measurement was possible only in SPring-8. Impossible or very difficult in other facilities.
Ease of measurement
With a great skill
Ease of analysis
With a great skill
How many shifts were needed for taking whole data in the figure?
More than ten shifts