Structural properties of FeS under high pressure and low temperature
問い合わせ番号
SOL-0000001106
ビームライン
BL10XU（高圧構造物性）
学術利用キーワード
| A. 試料 | 無機材料 |
|---|---|
| B. 試料詳細 | 金属・合金, 絶縁体・セラミックス, 結晶 |
| C. 手法 | Ｘ線回折 |
| D. 手法の詳細 | 粉末結晶構造解析 |
| E. 付加的測定条件 | 高圧（DAC）, 低温（〜液体ヘリウム） |
| F. エネルギー領域 | Ｘ線（4～40 keV) |
| G. 目的・欲しい情報 | 結晶構造, 相転移 |
産業利用キーワード
| 階層1 | 電子部品, 工業材料, その他 |
|---|---|
| 階層2 | |
| 階層3 | |
| 階層4 | 電子状態 |
| 階層5 | 回折 |
分類
A80.12 半導体・電子材料, A80.14 磁性材料, M10.20 粉末結晶回折
利用事例本文
The structural properties of FeS at low temperature and under pressures were studied by the x-ray diffraction on BL10XU. FeS undergoes two successive first order structural phase transitions. Figure shows typical observed x-ray diffraction patterns below and above 5 GPa, which gave fits to the troilite and MnP-type structures, respectively. Furthermore, it is found that there is a knee in the pressure dependence of volume in the troilite structure which is correspond to the semiconductor-metal transition. The transition is almost continues at 2.5 GPa and 17 K because there is a volume reduction less than 0.1% at the transition (H. Kobayashi et al., PRB, 71(2005)014110).
Figure. Typical x-ray diffraction profiles of FeS under high pressure (at 17K)
and pressure dependence of volume V.
[ H. Kobayashi, T. Kamimura, Y. Ohishi, N. Takeshita and Mori, Physical Review B 71, 014110 (2005), Fig. 1, 2,
©2005 American Physical Society ]
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原著論文/解説記事
誌名
PRB, 71(2005)014110
図番号
1,2
測定手法
The He flow type cryostat for the DAC can be mounted on the BL10XU's diffractometer for low temperature experiments down to 10 K as shown in figure. Combining the on-line pressure measurement system described above with a He-gas driven DAC, in which the pressure can be controlled remotely, one can conduct high- pressure experiment at low temperature very efficiently.
Figure. Cryostat and DAC of BL10XU
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BL評価プレゼン資料
測定準備に必要なおおよその時間
1 シフト
測定装置
| 装置名 | 目的 | 性能 |
|---|---|---|
| DAC cryostat | high pressure/low temperature | 70GPa, 10K |
参考文献
関連する手法
アンケート
本ビームラインの主力装置を使っている
測定の難易度
中程度
データ解析の難易度
中程度
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
4～9シフト