Pressure induced phase transition of Scandium under ultra-high pressure
問い合わせ番号
SOL-0000001127
ビームライン
BL10XU（高圧構造物性）
学術利用キーワード
| A. 試料 | 無機材料 |
|---|---|
| B. 試料詳細 | 金属・合金 |
| C. 手法 | Ｘ線回折 |
| D. 手法の詳細 | 粉末結晶構造解析 |
| E. 付加的測定条件 | マイクロビーム(>10μｍ), 高圧（DAC） |
| F. エネルギー領域 | Ｘ線（4～40 keV) |
| G. 目的・欲しい情報 | 結晶構造, 相転移 |
産業利用キーワード
| 階層1 | 工業材料, その他 |
|---|---|
| 階層2 | |
| 階層3 | |
| 階層4 | 密度, 結晶構造, 電子状態, 結晶弾性率 |
| 階層5 | 回折 |
分類
A80.20 金属・構造材料, M10.20 粉末結晶回折
利用事例本文
X-ray diffraction experiments were carried out in order to study structural phase transition of the trivalent rare-earth metal scandium (Sc) at pressures up to 300GPa. Figure shows the existence of four stages of structural transition. The crystal structure of the highest pressure phase, Sc-V, was revealed to be a hexagonal lattice consisting of 6-screw helical chains.
Figure.Structure of Sc-V and the change of the atomic volume for Sc.
[ Y. Akahama, H. Fujihisa and H. Kawamura, Physical Review Letters 94, 195503 (2005), Fig. 3, 4,
©2005 American Physical Society ]
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原著論文/解説記事
誌名
PRL, 94(2005)195503
図番号
3,4
測定手法
The high pressure research beamline BL10XU is designed to perform the X-ray diffraction structure analysis under high-pressure and low/high temperature, using the high brilliance X-rays from the in-vacuum type undulator. The monochromatic and focused X-rays irradiate the sample enclosed in a DAC system, which can generate the pressure up to 300 GPa. The most of the conventional limitations (extremely small size sample area (<100mm), limited diffraction windows, x-ray absorption by diamond and so on) for the DAC high pressure diffraction experiment was extended and upgraded to the high resolution, high angular resolution and high counting statistics diffraction experiment as well as rapid data measurement.
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BL評価プレゼン資料
測定準備に必要なおおよその時間
4 時間
測定装置
| 装置名 | 目的 | 性能 |
|---|---|---|
| DAC diffractometer | high pressure x-ray diffraction | <300GPa x-ray diffraction measurement |
参考文献
関連する手法
powder x-ray diffraction, single crystal x-ray diffraction
アンケート
SPring-8だからできた測定。他の施設では不可能もしくは難しい
本ビームラインの主力装置を使っている
測定の難易度
熟練が必要
データ解析の難易度
中程度
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
10シフト以上