New pressure scale : Raman shift of diamond
問い合わせ番号
SOL-0000001210
ビームライン
BL10XU（高圧構造物性）
学術利用キーワード
| A. 試料 | 計測法、装置に関する研究 |
|---|---|
| B. 試料詳細 | 絶縁体・セラミックス, 結晶性固体 |
| C. 手法 | Ｘ線回折 |
| D. 手法の詳細 | 粉末結晶構造解析 |
| E. 付加的測定条件 | マイクロビーム(>10μｍ), 高圧（DAC） |
| F. エネルギー領域 | Ｘ線（>40 keV） |
| G. 目的・欲しい情報 | 結晶構造 |
産業利用キーワード
| 階層1 | その他 |
|---|---|
| 階層2 | |
| 階層3 | |
| 階層4 | 密度, 結晶弾性率 |
| 階層5 | 回折 |
分類
M10.20 粉末結晶回折
利用事例本文
This application is expected as a new pressure determination up to multi-megabars pressure region. The first-order Raman spectra of diamond anvils of DAC have been measured at the pressure up to 300GPa. In order to determine the volume of the pressure standard, powder x-ray diffraction experiments were carried out at 300K on BL10XU (Y. Akahama et al., Journal of Applied Physics, 96-7(2004)3748).
Figure. The pressure dependence of the Raman shift of diamond.
[ Y. Akahama and H. Kawamura, Journal of Applied Physics 96, 3748-3751 (2004), Fig. 2,
©2004 American Institute of Physics ]
画像ファイルの出典
私信等、その他
詳細
兵庫県立大 赤浜裕一氏提供
測定手法
The high pressure research beamline BL10XU is designed to perform the X-ray diffraction structure analysis under high-pressure and low/high temperature, using the high brilliance X-rays from the in-vacuum type undulator. The monochromatic and focused X-rays irradiate the sample enclosed in a DAC system, which can generate the pressure up to 300 GPa. The most of the conventional limitations (extremely small size sample area (<100mm), limited diffraction windows, x-ray absorption by diamond and so on) for the DAC high pressure diffraction experiment was extended and upgraded to the high resolution, high angular resolution and high counting statistics diffraction experiment as well as rapid data measurement.
画像ファイルの出典
BL評価プレゼン資料
測定準備に必要なおおよその時間
4 時間
測定装置
| 装置名 | 目的 | 性能 |
|---|---|---|
| DAC diffractometer | high pressure x-ray diffraction | X-ray diffraction at the pressure up to 300GPa |
参考文献
関連する手法
powder x-ray diffraction, single crystal x-ray diffraction, Raman spectroscopy
アンケート
SPring-8だからできた測定。他の施設では不可能もしくは難しい
本ビームラインの主力装置を使っている
測定の難易度
熟練が必要
データ解析の難易度
初心者でもOK
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
4～9シフト