重い電子系CeCu2Ge2の低温下での圧縮異常
Inquiry number
SOL-0000001320
Beamline
BL10XU (High Pressure Research)
Scientific keywords
| A. Sample category | inorganic material |
|---|---|
| B. Sample category (detail) | superconductor |
| C. Technique | X-ray diffraction |
| D. Technique (detail) | powder diffraction |
| E. Particular condition | high pressure (DAC), low-T (~ liquid He) |
| F. Photon energy | X-ray (4-40 keV) |
| G. Target information | crystal structure, phase transition |
Industrial keywords
| level 1---Application area | others |
|---|---|
| level 2---Target | |
| level 3---Target (detail) | |
| level 4---Obtainable information | d-spacing (lattice parameter), valence, elastic modulus |
| level 5---Technique | diffraction |
Classification
M10.20 powder diffraction
Body text
本事例では重い電子系圧力誘起超伝導体CeCu2Ge2について低温下での高圧X線回折実験を行い、10Kにおける結晶格子定数の圧力変化を測定しました。このデータから、図に示すような超伝導体転移温度Tcが増大する圧力近傍(15GPa)で、結晶格子体積の圧縮異常が観測され、Tc増大と価数揺らぎとの関係が明らかになりました(A. Onodera et al., Solid State Communication, 123(2002)113)。
図 10KにおけるCeCu2Ge2の格子体積の圧力変化
[ A. Onodera, S. Tsuduki, Y. Ohishi, T. Watanuki, K. Ishida, Y. Kitaoka and Y. Onuki, Solid State Communication 123, 113-116 (2002), Fig. 2,
©2002 Elsevier Science Publisher ]
Source of the figure
Original paper/Journal article
Journal title
Solid State Communication, 123(2002)113
Figure No.
2
Technique
BL10XUでの低温・高圧下でのX線回折実験は、クライヲスタットの中にダイヤモンドアンヴィルセル(DAC)を封入し、透過窓からX線回折像を測定します。窓はマイラ製で光学的観察が行えるので、低温下においてもルビー蛍光法による試料の圧力測定が可能です。また、DACはHeガス駆動方式です。したがって、試料の温度と圧力が外部から制御でき、広い温度圧力領域（多くの観測点）でのX線回折測定が効率よく実施できます。
図 BL10XUの低温高圧X線回折装置
Source of the figure
Presentation material for Beamline Report
Required time for experimental setup
1 shift(s)
Instruments
| Instrument | Purpose | Performance |
|---|---|---|
| DAC用クライオスタット | 高圧・低温装置 | 70GPa, 10K |
References
Related experimental techniques
低温高圧下での電気抵抗測定
Questionnaire
This solution is an application of a main instrument of the beamline.
Ease of measurement
Middle
Ease of analysis
Easy
How many shifts were needed for taking whole data in the figure?
Two-three shifts