INS-0000001620
白色X線は湾曲分光結晶によりおよそ1000 eV程度の幅を持った分散X線へと分光される。分散X線は一旦試料位置にて集光した後、再び発散して二次元検出器によって計測される。これにより、物理的に動く機構が無いままX線吸収スペクトル、XAFSの測定が可能となり、XAFS測定の高速化や精密化が図れる。試料雰囲気をコントロールしつつガス導入システム、ポテンシオスタット、インジェクターとの同期測定が可能。
