Molecular orientation of rubbed PI by GIXD
問い合わせ番号
SOL-0000000876
ビームライン
BL19B2（X線回折・散乱 II）
学術利用キーワード
| A. 試料 | 有機材料 |
|---|---|
| B. 試料詳細 | 高分子有機材料, 膜 |
| C. 手法 | Ｘ線回折 |
| D. 手法の詳細 | 広角散乱, 斜入射Ｘ線回折／散乱 |
| E. 付加的測定条件 | 室温 |
| F. エネルギー領域 | Ｘ線（4～40 keV) |
| G. 目的・欲しい情報 | 構造解析 |
産業利用キーワード
| 階層1 | ディスプレイ |
|---|---|
| 階層2 | LCD |
| 階層3 | 配向膜, TFT |
| 階層4 | 配向 |
| 階層5 | GIXD |
分類
A80.12 半導体・電子材料, M10.30 表面・界面構造回折
利用事例本文
In this solution, grazing incidence X-ray diffraction was applied to a rubbed polyimide film for liquid crystal alignment in a liquid crystal display to analyze polyimide molecular orientation . In grazing incidence X-ray diffraction, incident X-rays are impinged to a sample surface with a very small angle (lower than the critical angle for total reflection) to restrict X-ray penetration depth in some teens nanometers. In this condition, sensitivity to scattered X-rays from sample surface or deposited thin film on substrate is much improved. These data reveal the fact that Main chain of the polyimide aligned in the rubbing direction.
Diffraction profiles from rubbed polyimide film in parallel and normal direction to rubbing
画像ファイルの出典
私信等、その他
詳細
自ら新たに作成した図（広沢）
測定手法
Grazing incidence X-ray diffraction is performed by observing diffracted X-ray profiles caused by in-plane periodicity in thin film, surface and interface. In this solution, in-plane preferred orientation of polyimide molecules were obtained.
画像ファイルの出典
図なし
測定準備に必要なおおよその時間
1 シフト
測定装置
| 装置名 | 目的 | 性能 |
|---|---|---|
| Multi-axis diffractometer | diffraction | 4axes and 2axes |
参考文献
| 文献名 |
|---|
| I. Hirosawa, Int Display Workshop (IDW)’04., 179-182 (2004). |
関連する手法
GIXS, FT-IR
アンケート
本ビームラインの主力装置を使っている
測定の難易度
熟練が必要
データ解析の難易度
中程度
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
2～3シフト