In-situ observation of growth of Fe-Zn intermetallic compounds in galvannealing process
問い合わせ番号
SOL-0000000881
ビームライン
BL19B2（X線回折・散乱 II）
学術利用キーワード
| A. 試料 | 無機材料 |
|---|---|
| B. 試料詳細 | 金属・合金 |
| C. 手法 | Ｘ線回折 |
| D. 手法の詳細 | 広角散乱 |
| E. 付加的測定条件 | 高温（〜500度）, 時分割（比較的遅い） |
| F. エネルギー領域 | Ｘ線（4～40 keV) |
| G. 目的・欲しい情報 | 構造変化 |
産業利用キーワード
| 階層1 | 機械, 金属, 建設, 工業材料 |
|---|---|
| 階層2 | 構造材（鉄、非鉄） |
| 階層3 | 被膜、潤滑剤 |
| 階層4 | 表面・界面, 結晶構造, 配向 |
| 階層5 | 回折 |
分類
A80.20 金属・構造材料
利用事例本文
In this solution, in-situ X-ray diffraction measurement was applied to analyze the growth behavior of Fe-Zn intermetallic compounds at initial stage (~ a few 10 seconds) of gaalvannealing process. The data of change of the X-ray diffraction pattern from zinc coating indicated the dependence of the composition of the coatings on the growth behavior of Fe-Zn intermetallic compounds in the galvannealing process.
Change of the X-ray diffraction profiles from the Zinc coating in the galvannealing process
1.Zn coating with 0.13mass% Al 2.Pure Zn coating
[ A. Taniyama, M. Arai, T. Takayama and M. Sato, Materials Transactions 45, 2326-2331 (2004), Fig. 4, 7,
©2004 The Japan Institute of Metals ]
画像ファイルの出典
原著論文/解説記事
誌名
A. Taniyama, M.Arai, T. Takayama and M. Sato, Material ransaction Vol.45, No.7 (2004) pp.2326-2331
図番号
Fig.4,Fig.7
測定手法
In this experiment, the measurement of the X-ray diffraction from galvanized steel were carried out heating the samples up to T = ~460C by infrared beam heater. The time dependence of 1D profiles of the diffraction extracted by a receiving slit (2.5400mm) were continuously recorded on imaging plates set behind the receiving slit scanning in the horizontal direction. Using high energy X-ray (28KeV), the initial stage (~10sec)of the growth behavior of Fe-Zn intermetallic compounds at the interfaces between the Zn coatings and substrates was successfully observed.
The photograph and the schematic view of the experimental instrument
[ A. Taniyama, M. Arai, T. Takayama and M. Sato, Materials Transactions 45, 2326-2331 (2004), Fig. 1,
©2004 The Japan Institute of Metals ]
画像ファイルの出典
原著論文/解説記事
誌名
A. Taniyama, M. Arai, T. Takayama and M. Sato, Material Transactions, Vol. 45, No. 7 (2004) pp.2326-2331
図番号
Fig.1
測定準備に必要なおおよその時間
9 シフト
測定装置
| 装置名 | 目的 | 性能 |
|---|---|---|
| Multi-axis diffractometer | Measurement of the X-ray diffraction | Camera length for IP camera : 40~80cm |
| IP camera | Recording of the X-ray diffraction profile | Area of IP : 200×400mm |
参考文献
| 文献名 |
|---|
| Akira Taniyama, Masahiro Arai, Toru Takayama and Masugu Sato, Material Tranzaction, Vol. 45, no. 7 (2004) p2326-2331 |
関連する手法
アンケート
SPring-8だからできた測定。他の施設では不可能もしくは難しい
本ビームラインの主力装置を使っている
ユーザー持ち込み装置を使った
測定の難易度
熟練が必要
データ解析の難易度
中程度
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
4～9シフト