PDP用蛍光体の価数評価
Inquiry number
SOL-0000001403
Beamline
BL19B2 (X-ray Diffraction and Scattering II)
Scientific keywords
| A. Sample category | inorganic material |
|---|---|
| B. Sample category (detail) | insulator, ceramics, crystal |
| C. Technique | absorption and its secondary process |
| D. Technique (detail) | XAFS, XANES |
| E. Particular condition | polarization (linear), room temperature |
| F. Photon energy | X-ray (4-40 keV) |
| G. Target information | chemical state, electronic state, trace element |
Industrial keywords
| level 1---Application area | display |
|---|---|
| level 2---Target | PDP、FED |
| level 3---Target (detail) | phosphor |
| level 4---Obtainable information | electronic state, valence, chemical state |
| level 5---Technique | XAFS |
Classification
A80.30 inorganic material, M40.10 XAFS
Body text
本事例ではプラズマディスプレイパネル（PDP)用青色蛍光体BaMgAl10O17（BAM)についてEu-LⅢ吸収端におけるXAFS測定を行い、XANESを解析しました。XANESスペクトルからは、目的元素の価数などの電子状態に関する情報が得られます。このデータから、PDP用青色蛍光体BAMは熱処理によって２価から３価に酸化され、還元雰囲気における再処理によって元の価数に戻ることが明らかになりました。
PDP用青色蛍光体BAMのEu-LⅢ吸収端XANESスペクトル
Source of the figure
Private communication/others
Description
本間作
Technique
XANESは、測定試料を構成する元素の電子状態や局所構造を調べられるユニークな測定方法です。この方法は、 微量元素を含んだ結晶、非晶体、液体など様々な物質に適用でき、それらの微量元素の価数と局所構造に関する情報を得ることができます。
Source of the figure
No figure
Required time for experimental setup
2 hour(s)
Instruments
| Instrument | Purpose | Performance |
|---|---|---|
| XAFS測定装置 | XAFSスペクトルの取得 | 3.8keV-72keV |
References
| Document name |
|---|
| X線吸収分光法－XAFSとその応用－太田俊明編 |
Related experimental techniques
XMCD
Questionnaire
This solution is an application of a main instrument of the beamline.
Ease of measurement
Middle
Ease of analysis
Middle
How many shifts were needed for taking whole data in the figure?
Less than one shift