Ba8Mn2Ge44中のMnの価数
Inquiry number
SOL-0000001409
Beamline
BL19B2 (X-ray Diffraction and Scattering II)
Scientific keywords
| A. Sample category | inorganic material |
|---|---|
| B. Sample category (detail) | metal, alloy, semiconductor, magnetic material, ferroelectric material |
| C. Technique | absorption and its secondary process |
| D. Technique (detail) | XAFS, XANES |
| E. Particular condition | room temperature |
| F. Photon energy | X-ray (4-40 keV) |
| G. Target information | chemical state |
Industrial keywords
| level 1---Application area | industrial material, others |
|---|---|
| level 2---Target | |
| level 3---Target (detail) | |
| level 4---Obtainable information | electronic state, valence, chemical state |
| level 5---Technique | XAFS |
Classification
A80.30 inorganic material, A80.42 energy, resource, M40.10 XAFS
Body text
本事例では新規蓄熱材料の候補として注目されているクラスレート（Ba8Mn2Ge44）についてMn-K吸収端におけるXAFS測定を行い、XANESを解析しました。XANESスペクトルからは、目的元素の価数などの電子状態に関する情報が得られます。このデータから、このクラスレート中のMnの価数はMnSiと同様に0価と２価の間であることがわかりました。
Mn-K吸収端でのXANESスペクトル
Source of the figure
Private communication/others
Description
広沢作成
Technique
XANESは、測定試料を構成する元素の電子状態や局所構造を調べられるユニークな測定方法です。この方法は、 微量元素を含んだ結晶、非晶体、液体など様々な物質に適用でき、それらの微量元素の価数と局所構造に関する情報を得ることができます。
Source of the figure
No figure
Required time for experimental setup
4-6 hour(s)
Instruments
| Instrument | Purpose | Performance |
|---|---|---|
| XAFS測定装置 | XAFSスペクトルの測定 | 3.8-72KeV |
References
| Document name |
|---|
| X線吸収分光法－XAFSとその応用－太田俊明編 |
Related experimental techniques
DAFS、異常分散回折
Questionnaire
This solution is an application of a main instrument of the beamline.
Ease of measurement
Easy
Ease of analysis
Middle
How many shifts were needed for taking whole data in the figure?
Two-three shifts