高エネルギー蛍光Ｘ線分析
Inquiry number
SOL-0000001459
Beamline
BL20XU (Medical and Imaging II)
Scientific keywords
| A. Sample category | inorganic material, research on method, instrumentation |
|---|---|
| B. Sample category (detail) | insulator, ceramics |
| C. Technique | fluorescent X-rays |
| D. Technique (detail) | trace-element |
| E. Particular condition | |
| F. Photon energy | X-ray (> 40 keV) |
| G. Target information | elemental composition, trace element |
Industrial keywords
| level 1---Application area | environment, Chemical product, industrial material, others |
|---|---|
| level 2---Target | Environmental material, glass |
| level 3---Target (detail) | |
| level 4---Obtainable information | element distribution, molphology |
| level 5---Technique |
Classification
A80.30 inorganic material
Body text
この事例では、高エネルギー領域での蛍光Ｘ線分析の例を示します。図に示すのはガラス片を試料として113keVのＸ線での励起による蛍光Ｘ線スペクトルです。ppm レベルの濃度であるZr, Sr, Ba のピークがが明瞭に検出されています。ppm以下の濃度である希土類元素、W、Hf等は検出されていませんが、高エネルギー蛍光Ｘ線分光が有効なものであることが分かりました。
Source of the figure
Bulletin from SPring-8
Bulletin title
ユーザーレポート2004B
Page
128
Technique
この事例ではBL20XUの特長である高エネルギーＸ線を利用しています。蛍光Ｘ線分析において、高エネルギーＸ線を励起光として用いることにより、重元素のＫ蛍光Ｘ線による微量分析が出来ます。この利点は低エネルギーＸ線励起によるＬ蛍光Ｘ線分光に比較してスペクトルの解析がはるかに容易になることです。蛍光Ｘ線分光は一般的なエネルギー分散型検出器であるGe半導体検出器を使いました。
Source of the figure
No figure
Required time for experimental setup
4 hour(s)
Instruments
References
Related experimental techniques
Questionnaire
The measurement was possible only in SPring-8. Impossible or very difficult in other facilities.
Ease of measurement
Middle
Ease of analysis
Middle
How many shifts were needed for taking whole data in the figure?
Less than one shift