Pressure-induced structural change in liquid CdTe studied by in-situ high-temperature high-pressure angle-dispersive x-ray diffraction
問い合わせ番号
SOL-0000001003
ビームライン
BL22XU（JAEA 重元素科学I）
学術利用キーワード
| A. 試料 | 無機材料 |
|---|---|
| B. 試料詳細 | 金属・合金, 半導体, 非晶質、ガラス, 液体・融体 |
| C. 手法 | Ｘ線回折 |
| D. 手法の詳細 | 粉末結晶構造解析, 広角散乱 |
| E. 付加的測定条件 | 高圧（大型プレス）, 高温（>>500度） |
| F. エネルギー領域 | Ｘ線（4～40 keV), Ｘ線（>40 keV） |
| G. 目的・欲しい情報 | 結合状態, 局所構造 |
産業利用キーワード
| 階層1 | 半導体 |
|---|---|
| 階層2 | 化合物半導体 |
| 階層3 | |
| 階層4 | 局所構造 |
| 階層5 | 回折 |
分類
A80.12 半導体・電子材料, M10.20 粉末結晶回折
利用事例本文
Angle-dispersive X-ray diffraction method is a powerful technique to study structural change of a matter induced at high temperatures and high pressures. Using this technique, one can measure the structures of liquids or glasses as well as those of crystalline solids. They often show significant or dramatic changes under such extreme conditions. The high-brilliance, high-energy monochromatic x-rays available on BL22XU allows collection of precise data even in a shorter time in comparison with a conventional energy-dispersive x-ray diffraction method. The figure shows pressure dependence of structure factor, S(Q), measured for liquid CdTe. These data reveal that the local structure evolves gradually from a four-fold coordinated structure to a six-fold coordinated structure as the pressure increases from 0.2 to 3.5 GPa.
Figure Pressure dependence of structure factor S(Q) for liquid CdTe
画像ファイルの出典
私信等、その他
詳細
日本原子力研究所の服部高典研究員
測定手法
画像ファイルの出典
図なし
測定準備に必要なおおよその時間
48 時間
測定装置
| 装置名 | 目的 | 性能 |
|---|---|---|
| Cubic-type multi-anvil press | In-situ X-ray diffraction and absorption measurements under high temperature and high pressure | Temperature pressure conditions: About 12 GPa at room temperature, About 2000K at 6 GPa |
参考文献
| 文献名 |
|---|
| T.Kinoshita, T.Hattori, T.Narushima and K.Tsuji, Phys.Rev.B, 72, 060102(R) (2005) |
関連する手法
アンケート
SPring-8だからできた測定。他の施設では不可能もしくは難しい
測定の難易度
熟練が必要
データ解析の難易度
熟練が必要
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
4～9シフト