Ｘ線回折顕微法
Body text
Ｘ線回折顕微法はオーバーサンプリングしたＸ線回折強度パターンから試料像を再生することのできるユニークな手法です。この手法を用いることで、 試料の結晶化を要さず、電子密度分布を測定することができます。
図に示すのは、大腸菌試料からの回折強度パターンと二次元再生像です。
図 大腸菌からのＸ線回折強度パターン
図 Ｘ線回折強度パターンから再生した大腸菌の像
[ J. Miao, K. O. Hodgson, T. Ishikawa, C. A. Larabell, M. A. LeGros and Y. Nishino, Proceedings of National Academy of Science of the USA 100, 110-112 (2003), Fig. 1A, 2,
©2003 National Academy of Science ]
Scientific keywords
| A. Sample category | inorganic material, organic material, biology, medicine |
|---|---|
| B. Sample category (detail) | metal, alloy, semiconductor, insulator, ceramics, solid-state crystal, amorphous, glass, organism, cell, biological material |
| C. Technique | X-ray diffraction |
| D. Technique (detail) | coherent scattering, phase measurement, speckle |
| E. Particular condition | 2D imaging, 3D imaging (cf. CT), X-ray microscopy |
| F. Photon energy | X-ray (4-40 keV) |
| G. Target information | structure analysis |
Industrial keywords
| level 1---Application area | Pharmaceuticals |
|---|---|
| level 2---Target | drug design, food, Environmental material |
| level 3---Target (detail) | organism |
| level 4---Obtainable information | |
| level 5---Technique | diffraction, imaging |
Inquiry number
SOL-0000001535
Last modified