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X線回折顕微法

利用事例本文

X線回折顕微法はオーバーサンプリングしたX線回折強度パターンから試料像を再生することのできるユニークな手法です。この手法を用いることで、 試料の結晶化を要さず、電子密度分布を測定することができます。
図に示すのは、大腸菌試料からの回折強度パターンと二次元再生像です。

図 大腸菌からのX線回折強度パターン

図 X線回折強度パターンから再生した大腸菌の像

[ J. Miao, K. O. Hodgson, T. Ishikawa, C. A. Larabell, M. A. LeGros and Y. Nishino, Proceedings of National Academy of Science of the USA 100, 110-112 (2003), Fig. 1A, 2,
©2003 National Academy of Science ]

 

学術利用キーワード

A. 試料 無機材料, 有機材料, 生物・医学
B. 試料詳細 金属・合金, 半導体, 絶縁体・セラミックス, 結晶性固体, 非晶質、ガラス, 生体組織、細胞系等, 生体材料
C. 手法 X線回折
D. 手法の詳細 コヒーレント散乱, 位相計測, スペックル
E. 付加的測定条件 二次元画像計測, 三次元画像計測(CT等), 高分解能画像計測(顕微鏡)
F. エネルギー領域 X線(4~40 keV)
G. 目的・欲しい情報 構造解析

産業利用キーワード

階層1 製薬
階層2 ドラッグデザイン, 食品, 環境物質
階層3 生体
階層4
階層5 回折, イメージング

問い合わせ番号

SOL-0000001535

最終変更日 2010-05-20 11:01
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