kHz領域のX線円偏光スイッチング
問い合わせ番号
SOL-0000001545
ビームライン
BL29XU（理研 物理科学I）
学術利用キーワード
| A. 試料 | 計測法、装置に関する研究 |
|---|---|
| B. 試料詳細 | 磁性体 |
| C. 手法 | Ｘ線回折 |
| D. 手法の詳細 | 磁気散乱, MCD, LD |
| E. 付加的測定条件 | 偏光（円、楕円）, 時分割（比較的遅い） |
| F. エネルギー領域 | Ｘ線（4～40 keV) |
| G. 目的・欲しい情報 | スピン・磁性構造 |
産業利用キーワード
| 階層1 | 記憶装置 |
|---|---|
| 階層2 | HD、MO |
| 階層3 | 磁性層, 磁気ヘッド, スピンバルブ膜 |
| 階層4 | 磁化 |
| 階層5 | XMCD, 磁気散乱, 磁気コンプトン散乱, PEEM |
分類
A80.14 磁性材料, M25.10 磁気散乱, M40.30 磁気吸収
利用事例本文
本事例ではガルバノスキャナーを使ってダイヤモンド移相子結晶を高速に振動させることにより、kHz領域でのX線円偏光スイッチング法を開発しました。これまでのピエゾ素子を用いた方法では円偏光スイッチングの周波数は最高でも100 Hz でしたが、この方法により 2 kHz でのスイッチングを実現しました。しかも、図に示すように円偏光度は DC〜1 kHz で98%, 2 kHz で97%と非常に高い値が得られています。高速偏光スイッチングとロックイン検出法とを組み合わせることにより、磁気円二色性分光や磁気散乱実験の測定精度の向上に役立てることができます。
図. kHz円偏光スイッチングによって得られる円偏光度 (PC)と周波数の関係
[ M. Suzuki, N. Kawamura and T. Ishikawa, Review of Scientific Instruments 74, 19-22 (2003), Fig. 4,
©2003 American Institute of Physics ]
画像ファイルの出典
原著論文/解説記事
誌名
Rev. Sci. Instrum. 74, 19 (2003).
図番号
Fig. 4
測定手法
kHz領域の円偏光スイッチングは、ダイヤモンド移相子結晶をガルバノスキャナーで高速かつ秒オーダーの角度精度で振動させることによって行います。図には移相子結晶を取り付けたガルバノスキャナーの写真を示します。
図. 移相子結晶を取り付けたガルバノスキャナー
[ M. Suzuki, N. Kawamura and T. Ishikawa, Review of Scientific Instruments 74, 19-22 (2003), Fig. 1,
©2003 American Institute of Physics ]
画像ファイルの出典
原著論文/解説記事
誌名
Rev. Sci. Instrum. 74, 19 (2003).
図番号
Fig. 1
測定準備に必要なおおよその時間
2 シフト
測定装置
| 装置名 | 目的 | 性能 |
|---|---|---|
| ガルバノスキャナー | 移相子結晶をkHzの周波数で振動させ、左右円偏光を高速に切り替える | 最高振動周波数 2 kHz |
参考文献
| 文献名 |
|---|
| M. Suzuki, N. Kawamura, and T. Ishikawa, Rev. Sci. Instrum. 74, 19 (2003). |
関連する手法
変調分光法, 円偏光変調分光, XMCD, X線磁気円二色性分光, X線磁気散乱, X線磁気反射率
アンケート
測定の難易度
中程度
データ解析の難易度
中程度
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
2～3シフト