ビームラインにおける光軸確認システム
問い合わせ番号
SOL-0000001581
ビームライン
BL37XU(分光分析)
学術利用キーワード
A. 試料 | 計測法、装置に関する研究 |
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B. 試料詳細 | |
C. 手法 | 蛍光X線 |
D. 手法の詳細 | 微量元素分析 |
E. 付加的測定条件 | |
F. エネルギー領域 | X線(4~40 keV) |
G. 目的・欲しい情報 |
産業利用キーワード
階層1 | |
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階層2 | |
階層3 | |
階層4 | 元素分布 |
階層5 |
分類
利用事例本文
アンジュレータービームラインにとって,光軸を決定することは重要であり,従来ではモノクロや下流のスリットを考慮しなければならないため,煩雑であった。本事例は,フロントエンドスリットのみだけで光軸を決定できるものであり,議論しやすい。図に示したのは,縦方向のスキャンの一例である。最も高エネルギー側でかつ強度も高くなる点が光源となるので,非常に単純に中心を見つけることができるのが利点である。
図 縦方向フロントエンドスリットスキャンの一例
画像ファイルの出典
私信等、その他
詳細
測定手法
本事例は,光軸上に,ヘリウムチャンバーを挿入し,鉛直方向に取り付けたエネルギー分散型検出器でヘリウムにより散乱されたX線を検出することにより,スリット中心を決めている。測定時のアンジュレーターギャップは40mmである。縦方向は最も高エネルギーかつ高強度の点,横方向はピーク位置は変わらず,最も高い強度となる点を光軸中心として,毎サイクル開始時にチェックを行っている。
画像ファイルの出典
図なし
測定準備に必要なおおよその時間
1 時間
測定装置
参考文献
関連する手法
アンケート
測定の難易度
初心者でもOK
データ解析の難易度
初心者でもOK
図に示した全てのデータを取るのにかかったシフト数
1シフト以下