ビームラインにおける光軸確認システム
Inquiry number
SOL-0000001581
Beamline
BL37XU (Trace Element Analysis)
Scientific keywords
| A. Sample category | research on method, instrumentation |
|---|---|
| B. Sample category (detail) | |
| C. Technique | fluorescent X-rays |
| D. Technique (detail) | trace-element |
| E. Particular condition | |
| F. Photon energy | X-ray (4-40 keV) |
| G. Target information |
Industrial keywords
| level 1---Application area | |
|---|---|
| level 2---Target | |
| level 3---Target (detail) | |
| level 4---Obtainable information | element distribution |
| level 5---Technique |
Classification
Body text
アンジュレータービームラインにとって，光軸を決定することは重要であり，従来ではモノクロや下流のスリットを考慮しなければならないため，煩雑であった。本事例は，フロントエンドスリットのみだけで光軸を決定できるものであり，議論しやすい。図に示したのは，縦方向のスキャンの一例である。最も高エネルギー側でかつ強度も高くなる点が光源となるので，非常に単純に中心を見つけることができるのが利点である。
図 縦方向フロントエンドスリットスキャンの一例
Source of the figure
Private communication/others
Description
Technique
本事例は，光軸上に，ヘリウムチャンバーを挿入し，鉛直方向に取り付けたエネルギー分散型検出器でヘリウムにより散乱されたX線を検出することにより，スリット中心を決めている。測定時のアンジュレーターギャップは40mmである。縦方向は最も高エネルギーかつ高強度の点，横方向はピーク位置は変わらず，最も高い強度となる点を光軸中心として，毎サイクル開始時にチェックを行っている。
Source of the figure
No figure
Required time for experimental setup
1 hour(s)
Instruments
References
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Questionnaire
Ease of measurement
Easy
Ease of analysis
Easy
How many shifts were needed for taking whole data in the figure?
Less than one shift