高精度ガンドルフィカメラの開発
Inquiry number
SOL-0000001582
Beamline
BL37XU (Trace Element Analysis)
Scientific keywords
| A. Sample category | research on method, instrumentation |
|---|---|
| B. Sample category (detail) | solid-state crystal |
| C. Technique | X-ray diffraction |
| D. Technique (detail) | powder diffraction |
| E. Particular condition | |
| F. Photon energy | X-ray (4-40 keV) |
| G. Target information | structure analysis, crystal structure |
Industrial keywords
| level 1---Application area | Chemical product, industrial material, others |
|---|---|
| level 2---Target | Environmental material |
| level 3---Target (detail) | |
| level 4---Obtainable information | d-spacing (lattice parameter), interatomic distance, crystal structure, element distribution |
| level 5---Technique | diffraction |
Classification
M10.20 powder diffraction
Body text
ガンドルフィカメラは，単結晶試料であっても，自転と公転の2つの回転軸をもつことから，粉末パターンとなるカメラであり，昔から使われている。本事例では，このカメラと放射光を組み合わせ，宇宙塵などの微小試料の迅速回折パターン測定の可能性を追求している。1ミクロンレベルの試料サイズを想定するため，回転軸の精度が従来品以上に必要であり，専用機の設計を行った。図に示したのは，放射光にてガンドルフィカメラを使った一例で，イメージングプレートに記録された回折パターンである。このデータより，回折ピークの定量化が可能であり，従来法では不可能であった構造解析が5分間の露光時間で可能となった。
図 イメージングプレートに記録された回折パターン
Source of the figure
Private communication/others
Description
Technique
微小試料用に設計したカメラは回転精度2ミクロン以下となっており，05Bから稼働予定である。図に示すのはカメラの原理であり，今後，温度コントロールなどと組み合わせれば，無機材料の迅速評価装置としての可能性も広がる。もちろん，検出器を設置すれば，元素分析も行えるので，複合機としてのポテンシャルも持っている装置である。
図 ガンドルフィカメラの原理
Source of the figure
Private communication/others
Description
Required time for experimental setup
１ shift(s)
Instruments
References
Related experimental techniques
Questionnaire
The measurement was possible only in SPring-8. Impossible or very difficult in other facilities.
This solution is application of a new instrument installed in the past two years.
Ease of measurement
With a great skill
Ease of analysis
Middle
How many shifts were needed for taking whole data in the figure?
Four-nine shifts